ASTM E722-19
電子設備輻射硬度試驗用等效單能中子注量表征中子注量譜的標準實施規(guī)程
Standard Practice for Characterizing Neutron Fluence Spectra in Terms of an Equivalent Monoenergetic Neutron Fluence for Radiation-Hardness Testing of Electronics
說明：
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- 標準號
- ASTM E722-19
- 發(fā)布
- 2019年
- 總頁數(shù)
- 28頁
- 發(fā)布單位
- 美國材料與試驗協(xié)會
- 當前最新
- ASTM E722-19
- 引用標準
- ASTM E170 ASTM E265 ASTM E3084 ASTM E693 ASTM E720 ASTM E721 ASTM E844 ASTM E944
1.1 本實踐涵蓋了用等效單能中子注量來表征源中子注量的程序。它適用于中子效應測試、測試規(guī)范的制定以及中子測試環(huán)境的表征。這些源可以具有寬的中子能量范圍，或者可以是能量高達20MeV的單能中子源。這種做法不適用于位移損傷的主要來源是能量低于 10 keV 的中子的情況。相關等效性是指對源光譜所入射的材料的某些物理特性的特定影響。為了實現(xiàn)這一目標，需要了解中子...
| 術語 | |
|---|---|
| 位移損傷功能 | displacement damage function |
| 顯微鏡下位移損傷KERMA因子 | microscopic displacement kerma factor |
| 等效單能中子注量 | equivalent monoenergetic neutron fluence |
ASTM E722-19 中提到的儀器設備
| 測試反應堆 可用于硅和砷化鎵等半導體材料的輻照測試。 | 用于產(chǎn)生中子注量譜進行輻射硬度測試。 |
| Californium-252 輻照器 中子源能量范圍：≤20 MeV。 | 用于半導體器件的輻照測試。 |