GB/T 23413-2009
納米材料晶粒尺寸及微觀應(yīng)變的測定.X射線衍射線寬化法
Determination of crystallite size and micro-strain of nano-materials.X-ray diffraction line broadening method
GBT23413-2009, GB23413-2009
- 標(biāo)準(zhǔn)號
- GB/T 23413-2009
- 別名
- GBT23413-2009, GB23413-2009
- 發(fā)布
- 2009年
- 總頁數(shù)
- 11頁
- 發(fā)布單位
- 國家質(zhì)檢總局
- 當(dāng)前最新
- GB/T 23413-2009
- 引用標(biāo)準(zhǔn)
- GBW(E) 130014 GBW(E) 130016
- 適用范圍
- 本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了利用x射線衍射線寬化法來測定納米材料晶粒尺寸和微觀應(yīng)變的方法。本標(biāo)準(zhǔn)采用的計(jì)算方法是近似函數(shù)法。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于測定晶粒尺寸一般不大于100 nm，微觀應(yīng)變一般不大于0. 1%的納米材料。
GB/T 23413-2009 中提到的儀器設(shè)備
| X射線衍射儀 綜合穩(wěn)定度優(yōu)于1%，測角儀精度優(yōu)于0.001° | 用于測量材料的X射線衍射圖譜，分析晶粒尺寸和微觀應(yīng)變。 |