該測(cè)試方法涵蓋用于確定金和鈀涂層（特別是電觸點(diǎn)上使用的電沉積物和復(fù)合金屬）的孔隙率的設(shè)備和方法。該測(cè)試方法旨在顯示孔隙率水平是否小于或大于用戶根據(jù)經(jīng)驗(yàn)認(rèn)為對(duì)于預(yù)期應(yīng)用可接受的某個(gè)值。文獻(xiàn)中描述了多種其他孔隙率測(cè)試方法。其他孔隙率測(cè)試方法有 B 735、B 741、B 798 和 B 809。關(guān)于電沉積和相關(guān)金屬涂層孔隙率測(cè)試選擇的 ASTM 指南可作為指南 B 765 獲得。以 SI 單位表示的值應(yīng)被視為作為標(biāo)準(zhǔn)。括號(hào)中給出的值僅供參考。本標(biāo)準(zhǔn)并不旨在解決與其使用相關(guān)的所有安全問題（如果有）。本標(biāo)準(zhǔn)的使用者有責(zé)任熟悉所有危險(xiǎn)，包括制造商提供的該產(chǎn)品/材料的適當(dāng)材料安全數(shù)據(jù)表 (MSDS) 中確定的危險(xiǎn)，建立適當(dāng)?shù)陌踩徒】祵?shí)踐，并確定使用前監(jiān)管限制的適用性。有關(guān)具體危險(xiǎn)，請(qǐng)參閱第 4 節(jié)。