JIS H 8680-3:1998
鋁和鋁合金的陽極氧化膜厚度試驗(yàn)方法.第3部分:用分光束顯微鏡的無損測量

Test methods for thickness of anodic oxide coatings on aluminium and aluminium alloys -- Part 3: Non-destructive measurement by split-beam microscope

作廢

標(biāo)準(zhǔn)號

JIS H 8680-3:1998

發(fā)布

1998年

發(fā)布單位

日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會

替代標(biāo)準(zhǔn)

JIS H 8680-3:2013

當(dāng)前最新

JIS H 8680-3:2013

 

 

適用范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了采用分束顯微鏡檢測鋁及鋁合金制品（以下簡稱產(chǎn)品）陽極氧化膜（以下簡稱膜層）厚度的方法。

JIS H 8680-3:1998相似標(biāo)準(zhǔn)