預(yù)覽 GB/T 17340-1998前三頁
晶粒尺寸及形狀的分析傳統(tǒng)的晶粒尺寸測(cè)量依賴于顯微組織圖象中晶界的觀察。自從EBSD出現(xiàn)以來,并非所有晶界都能被常規(guī)浸蝕方法顯現(xiàn)這一事實(shí)已變得很清楚,特別是那些被稱為“特殊”的晶界,如孿晶和小角晶界。因?yàn)槠鋸?fù)雜性,嚴(yán)重孿晶顯微組織的晶粒尺寸測(cè)量就變得十分困難。由于晶粒主要被定義為均勻結(jié)晶學(xué)取向的單元...
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