側向力顯微鏡(Lateral force Microscope, LFM)LFM 的作用方式主要是使探針與樣品表面相接觸并在表面上平移，利用探針移動時所承受樣品表面摩擦力以及樣品表面高低起伏造成懸臂的偏斜量來探知樣品的材質與表面特性。圖6 的樣品是在硅表面放置的單層Langmuir-Blod...
原子力顯微鏡（AFM）是掃描探針顯微鏡（SPM）的一種。SPM也包括STM等?？蓞⒖础斗肿邮中g與納米診療：納米生物學及其應用...
掃描探針顯微鏡就是掃描隧道顯微鏡掃描隧道顯微鏡的英文縮寫是STM。這是20世紀80年代初期出現(xiàn)的一種新型表面分析工具。其基本原理是基于量子力學的隧道效應和三維掃描。它是用一個極細的尖針，針尖頭部為單個原子去接近樣品表面，當針尖和樣品表面靠得很近，即小于1納米時，針尖頭部的原子和樣品表面原子的電子云...
原子力顯微鏡（atomic force microscope，簡稱AFM），也稱掃描力顯微鏡（scanning force microscope，SFM）是一種納米級高分辨的掃描探針顯微鏡，優(yōu)于光學衍射極限1000倍。原子力顯微鏡的前身是掃描隧道顯微鏡，是由IBM蘇黎士研究實驗室的海因里?！ち_雷...
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