共找到 150 條與 共模電壓 相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)，共 10 頁
MICROCIRCUIT, LINEAR, DIFFERENCE AMPLIFIER, HIGH COMMON MODE VOLTAGE, MONOLITHIC SILICON
MICROCIRCUIT, LINEAR, DIFFERENCE AMPLIFIER, HIGH COMMON MODE VOLTAGE, MONOLITHIC SILICON
本標(biāo)準(zhǔn)適用于具有固定比率，額定輸入電壓高達(dá)1.5kV和等級指數(shù)為0.1[1000ppm(百萬分之幾)]或更好的直流電阻分壓箱。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于內(nèi)附的或有制造單位（或負(fù)責(zé)任的供貨者）提供的作為分壓箱主要部件的所有設(shè)備。 本標(biāo)準(zhǔn)不適用于輔助設(shè)備
D.C.resistive volt ratio boxes
本標(biāo)準(zhǔn)適用于具有固定比例，額定輸入電壓高達(dá)1.5kV和等級指數(shù)為0.1〔1000ppm（百萬分之幾）或10-3（科學(xué)標(biāo)記法scientific notation）〕或更好的直流電阻分壓箱。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于內(nèi)附的或由制造單位（或負(fù)責(zé)任的供貨者）提供的作為分壓箱主要部件的所有設(shè)備
D.C.resistive volt ratio boxes
Semiconductor integrated circuit voltage comparator test method
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了模擬電子電壓表（以下簡稱電壓表）的術(shù)語、產(chǎn)品分類、技術(shù)要求、試驗方法、檢驗規(guī)則、標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸和貯存等技術(shù)內(nèi)容。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于3.1.1條定義的電壓表，包括與這些電壓表配套應(yīng)用的下列附件： 分壓器（見3.1.5條）； 串接于電壓表的電阻器、電感器或
Generic specification for electronic analog voltmeters
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了工業(yè)自動化儀表共模、串模干擾影響的試驗方法。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于工業(yè)自動化儀表共模、串模干擾影響的性能評定。 本標(biāo)準(zhǔn)是《工業(yè)自動化儀表通用試驗方法》的一部分
Common-mode and series-mode interference effects of general test methods for industrial automation instruments
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路低電壓差分信號電路靜態(tài)參數(shù)、動態(tài)參數(shù)測試方法的基本原理。本標(biāo)準(zhǔn)適用于低電壓差分信號電路靜態(tài)參數(shù)、動態(tài)參數(shù)的測試
Semiconductor integrated circuit low voltage differential signal circuit testing method
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了平衡電壓數(shù)字接口電路的電氣特性。這種接口電路通常是以集成電路技術(shù)來實現(xiàn)的，它可以用于數(shù)據(jù)終端設(shè)備（DTE）與數(shù)據(jù)電路終接設(shè)備（DCE）之間串行二進(jìn)制信號的交換或數(shù)字設(shè)備之間串行二進(jìn)制信號的任何點對點的互連
Electrical characteristics of balanced voltage digital interface circuits
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了非平衡電壓數(shù)字接口電路的電氣特性。這種接口電路通常是以集成電路來實現(xiàn)的。它可以用于數(shù)據(jù)終端設(shè)備（DTE）與數(shù)據(jù)電路終接設(shè)備（DCE）之間串行二進(jìn)制信號的交換或數(shù)字設(shè)備之間串行二進(jìn)制信號的任何點對點的互連
Electrical characteristics of unbalanced voltage digital interface circuits
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了模擬電子電壓表（以下簡稱電壓表）性能特性的測試方法。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于檢驗國家標(biāo)準(zhǔn)GB12116所規(guī)定的有關(guān)性能特性
Measuring methods for electronic analog voltmeters
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了測量用直流穩(wěn)壓電源裝置的技術(shù)要求、試驗方法、檢驗規(guī)則及標(biāo)志包裝等。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于在電測量時能提供直流電壓校準(zhǔn)值，輸出電壓不超過2kV，電流不超過10A的裝置，也適用于這些裝置的附件。 注：提供校準(zhǔn)值的裝置，在參比條件下應(yīng)有規(guī)定的準(zhǔn)確度，并與它的穩(wěn)定度大致在同一數(shù)量級
d.c.stabilized supply apparatus for measurement
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了直流數(shù)字電壓表及直流模數(shù)變換器的術(shù)語、技術(shù)要求、試驗方法和檢驗規(guī)則以及標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸、貯存等。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于數(shù)字式直流電壓測量儀器（以下簡稱儀器）及數(shù)據(jù)與信息的處理設(shè)備或系統(tǒng)中旨在對直流電壓進(jìn)行變換的電子模/數(shù)變換器（以下簡稱變換器）。 本標(biāo)準(zhǔn)也適用于數(shù)字多用表的
Digital electronic d.c.voltmeters and d.c.electronic analogue-to-digital convertors
半導(dǎo)體集成電路低電壓差分信號（LVDS）電路的靜態(tài)參數(shù)和動態(tài)參數(shù)測試方法的基本原理及其適用性
Semiconductor integrated circuits—Measuring method of low voltage differential signaling circuitry
本規(guī)范規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路電壓比較器電特性測試方法的基本原理。 本規(guī)范適用于半導(dǎo)體集成電路電壓比較器電特性的測試
Semiconductor integrated circuits.General principles of measuring methods for voltage comparators
