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納米 厚度

本專題涉及納米 厚度的標(biāo)準(zhǔn)有6條。

國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，納米 厚度涉及到集成電路、微電子學(xué)、長度和角度測量。

在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，納米 厚度涉及到微型組件、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法。

美國通用公司（北美），關(guān)于納米 厚度的標(biāo)準(zhǔn)

• GM 9986321-2008 薄膜.納米厚度(NT)預(yù)處理通用質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

國家質(zhì)檢總局，關(guān)于納米 厚度的標(biāo)準(zhǔn)

• GB/T 42897-2023 微機(jī)電系統(tǒng)（MEMS）技術(shù) 硅基MEMS納米厚度膜抗拉強(qiáng)度試驗(yàn)方法

美國通用公司（全球），關(guān)于納米 厚度的標(biāo)準(zhǔn)

• GMW 16170-2011 薄膜.納米厚度(NT)的預(yù)處理一般質(zhì)量要求.第2次出版(英文版本)

國際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于納米 厚度的標(biāo)準(zhǔn)

• IEC TR 63258:2021 納米技術(shù).評估納米薄膜厚度的橢偏儀應(yīng)用指南
• IEC/TR 63258:2021 納米技術(shù).評估納米薄膜厚度的橢偏儀應(yīng)用指南

國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會，關(guān)于納米 厚度的標(biāo)準(zhǔn)

• GB/T 36969-2018 納米技術(shù) 原子力顯微術(shù)測定納米薄膜厚度的方法

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可能用到的儀器設(shè)備