原子力顯微鏡 納米片
本專題涉及原子力顯微鏡 納米片的標(biāo)準(zhǔn)有40條。
國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，原子力顯微鏡 納米片涉及到航空航天制造用材料、分析化學(xué)、光學(xué)和光學(xué)測量、試驗(yàn)條件和規(guī)程綜合、長度和角度測量、物理學(xué)、化學(xué)、光學(xué)設(shè)備、計(jì)量學(xué)和測量綜合。
在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，原子力顯微鏡 納米片涉及到基礎(chǔ)學(xué)科綜合、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、物理學(xué)與力學(xué)、光學(xué)計(jì)量、稀有金屬及其合金分析方法、電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、、化學(xué)。
美國材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)，關(guān)于原子力顯微鏡 納米片的標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM E285-08(2015) 使用原子力顯微鏡測量納米粒子的標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E2859-11(2017) 使用原子力顯微鏡測量納米粒子的標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E2859-11(2023) 使用原子力顯微鏡測量納米粒子尺寸的標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E2530-06 用Si(111)單原子層級(jí)對(duì)原子力顯微鏡進(jìn)行次納米位移級(jí)的Z倍率校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)程
海灣阿拉伯國家合作委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn)組織，關(guān)于原子力顯微鏡 納米片的標(biāo)準(zhǔn)
- GSO ISO 13095:2015 表面化學(xué)分析 原子力顯微鏡 用于納米結(jié)構(gòu)測量的原子力顯微鏡探針卡盤的原位表征程序
國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于原子力顯微鏡 納米片的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 40066-2021 納米技術(shù) 氧化石墨烯厚度測量 原子力顯微鏡法
- GB/T 36969-2018 納米技術(shù) 原子力顯微術(shù)測定納米薄膜厚度的方法
- GB/T 40128-2021 表面化學(xué)分析 原子力顯微術(shù) 二硫化鉬片層材料厚度測量方法
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于原子力顯微鏡 納米片的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 33714-2017 納米技術(shù) 納米顆粒尺寸測量 原子力顯微術(shù)
- GB/T 34831-2017 納米技術(shù) 貴金屬納米顆粒電子顯微鏡成像 高角環(huán)形暗場法
德國標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)，關(guān)于原子力顯微鏡 納米片的標(biāo)準(zhǔn)
- DIN SPEC 52407:2015-03 納米技術(shù) 使用原子力顯微鏡(AFM)和透射掃描電子顯微鏡(TSEM)進(jìn)行粒子測量的準(zhǔn)備和評(píng)估方法
丹麥標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于原子力顯微鏡 納米片的標(biāo)準(zhǔn)
- DS/ISO/TS 10797:2012 納米技術(shù) 使用透射電子顯微鏡表征單壁碳納米管
- DANSK DS/ISO/TS 10797:2012 納米技術(shù) 使用透射電子顯微鏡表征單壁碳納米管
- DANSK DS/ISO/TS 22292:2021 納米技術(shù) 使用透射電子顯微鏡重建棒狀納米物體的 3D 圖像
國家質(zhì)檢總局，關(guān)于原子力顯微鏡 納米片的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 27760-2011 利用Si（111）晶面原子臺(tái)階對(duì)原子力顯微鏡亞納米高度測量進(jìn)行校準(zhǔn)的方法
- GB/T 28872-2012 活細(xì)胞樣品納米結(jié)構(gòu)的磁驅(qū)動(dòng)輕敲模式原子力顯微鏡檢測方法
- GB/T 34831-2017(英文版) 納米技術(shù) 貴金屬納米粒子的電子顯微鏡成像 高角度環(huán)形暗場成像方法
印度標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于原子力顯微鏡 納米片的標(biāo)準(zhǔn)
- IS 17838-2022 納米技術(shù) 使用透射電子顯微鏡表征單壁碳納米管
法國標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于原子力顯微鏡 納米片的標(biāo)準(zhǔn)
- FD T16-209:2012 納米技術(shù) 使用透射電子顯微鏡表征單壁碳納米管
英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于原子力顯微鏡 納米片的標(biāo)準(zhǔn)
- PD ISO/TS 10797:2012 納米技術(shù) 使用透射電子顯微鏡表征單壁碳納米管
- BS PD ISO/TS 10797:2012 納米技術(shù) 使用透射電子顯微鏡表征單壁碳納米管
- BS ISO 19214:2024 微束分析 分析電子顯微鏡 透射電子顯微鏡測定納米晶體表觀生長方向的方法
- PD ISO/TS 22292:2021 納米技術(shù) 使用透射電子顯微鏡重建棒狀納米物體的 3D 圖像
- BS PD ISO/TS 22292:2021 納米技術(shù) 利用透射電子顯微鏡重建桿支撐納米物體的三維圖像
- BS ISO 13095:2014 表面化學(xué)分析. 原子力顯微鏡學(xué). 納米結(jié)構(gòu)測量用AFM探針柄輪廓的現(xiàn)場鑒定程序
- BS ISO 23729:2022 表面化學(xué)分析 原子力顯微鏡 有限探針尺寸擴(kuò)張的原子力顯微鏡圖像恢復(fù)程序指南
韓國科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于原子力顯微鏡 納米片的標(biāo)準(zhǔn)
- KS D 2716-2008(2018) 納米顆粒直徑的測量－透射電子顯微鏡
- KS D 2716-2008 納米粒子的直徑測量技術(shù).透射電子顯微鏡
- KS D 2716-2023 納米顆粒直徑的測量-透射電子顯微鏡
國際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于原子力顯微鏡 納米片的標(biāo)準(zhǔn)
- ISO TS 10797:2012 納米技術(shù).使用透射電子顯微鏡對(duì)單壁碳納米管進(jìn)行表征
- ISO 19214:2024 微束分析 分析電子顯微鏡 用透射電子顯微鏡測定納米晶體表觀生長方向的方法
- ISO/TS 10797:2012 納米技術(shù).利用透射電子顯微鏡法進(jìn)行單壁碳納米管特征探測
- ISO/TS 22292:2021 納米技術(shù).用透射電子顯微鏡重建棒支撐納米物體的三維圖像
- ISO 23729:2022 表面化學(xué)分析.原子力顯微鏡.有限探針尺寸放大原子力顯微鏡圖像的恢復(fù)程序指南
- ISO 13095:2014 表面化學(xué)分析. 原子力顯微鏡學(xué). 納米結(jié)構(gòu)測量用AFM探針柄輪廓的現(xiàn)場鑒定程序
- ISO TS 22292:2021 納米技術(shù)——使用透射電子顯微鏡對(duì)棒支撐的納米物體進(jìn)行3D圖像重建
中國團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于原子力顯微鏡 納米片的標(biāo)準(zhǔn)
- T/CSP 13-2024 顆粒技術(shù) 微納米異質(zhì)結(jié)構(gòu)分析 透射電子顯微鏡法
- T/BSPT 6-2024 顆粒技術(shù) 微納米異質(zhì)結(jié)構(gòu)分析 透射電子顯微鏡法
巴林國家計(jì)量局，關(guān)于原子力顯微鏡 納米片的標(biāo)準(zhǔn)
- BH GSO ISO 13095:2017 表面化學(xué)分析 原子力顯微鏡 用于納米結(jié)構(gòu)測量的 AFM 探針柄輪廓的原位表征程序
ESDU - Engineering Sciences Data Unit，關(guān)于原子力顯微鏡 納米片的標(biāo)準(zhǔn)
- SPB-M6-3-2010 08 年 4 月：原子力顯微鏡（技術(shù)背景）
