分光片厚度
本專題涉及分光片厚度的標(biāo)準(zhǔn)有114條。
國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，分光片厚度涉及到醫(yī)療設(shè)備、半導(dǎo)體材料、絕緣流體、金屬材料試驗(yàn)、塑料、有色金屬、光學(xué)設(shè)備、鋼鐵產(chǎn)品、道路車輛裝置、非金屬礦、攝影技術(shù)、太陽能工程、地質(zhì)學(xué)、氣象學(xué)、水文學(xué)、橡膠和塑料制品、制藥學(xué)、長(zhǎng)度和角度測(cè)量、分析化學(xué)、建筑材料、旋轉(zhuǎn)電機(jī)、光纖通信、鋪地非織物。
在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，分光片厚度涉及到光學(xué)儀器綜合、半金屬與半導(dǎo)體材料綜合、金屬物理性能試驗(yàn)方法、放大鏡與顯微鏡、半金屬、化合物半導(dǎo)體材料、專用材料及其制品、建材原料礦、冶金輔助原料礦、感光材料基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、太陽能、氣象學(xué)、紙漿與紙板、合成樹脂、塑料基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、毛皮、皮革與人造革制品、、元素半導(dǎo)體材料、合成樹脂、塑料、材料防護(hù)、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、電容器、光通信設(shè)備、電化學(xué)、熱化學(xué)、光學(xué)式分析儀器。
韓國科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于分光片厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- KS B ISO 9339-1:2004 光學(xué)及光學(xué)儀器.接觸鏡片.厚度測(cè)定.第1部分:直接接觸鏡片
- KS B ISO 9339-1:2014 光學(xué)及光學(xué)儀器.接觸鏡片.厚度測(cè)定.第1部分:直接接觸鏡片
- KS B ISO 9339-2:2004 光學(xué)及光學(xué)儀器.接觸鏡片.厚度測(cè)定.第2部分:水凝膠接觸鏡片
- KS B ISO 9339-2:2014 光學(xué)及光學(xué)儀器.接觸鏡片.厚度測(cè)定.第2部分:水凝膠接觸鏡片
- KS D 0259-2012(2017) 測(cè)量的厚度 厚度不均或弓硅片方法
- KS D 0259-2022 硅片厚度、厚度偏差和彎曲度的測(cè)量方法
- KS D 0259-2012 硅片的厚度、厚度變化和彎曲度的測(cè)定方法
- KS D 0259-2012(2022) 硅片厚度、厚度變化和彎曲的測(cè)量方法
- KS M ISO 4591:2007 塑料.薄片和薄膜.以重量分析技術(shù)(重量分析厚度)測(cè)定試樣的平均厚度和一卷的量和平均厚度
- KS M 3089-2013 塑料薄膜及薄片厚度試驗(yàn)方法
- KS M 3089-2009 塑料薄膜和片材的厚度測(cè)定法
- KS M 3089-1994 塑料薄膜及薄片厚度試驗(yàn)方法
- KS M ISO 4591-2023 塑料 薄膜和片材 通過重量技術(shù)測(cè)定樣品的平均厚度以及卷的平均厚度和產(chǎn)量（重量厚度）
- KS M ISO 4593-2022 塑料 薄膜和片材 機(jī)械掃描厚度測(cè)定
國家質(zhì)檢總局，關(guān)于分光片厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 6618-2009 硅片厚度和總厚度變化測(cè)試方法
- GB/T 6618-1995 硅片厚度和總厚度變化測(cè)試方法
- GB/T 40279-2021 硅片表面薄膜厚度的測(cè)試 光學(xué)反射法
- GB/T 44276.1-2024 顯微鏡 蓋玻片 第1部分：尺寸偏差、厚度和光學(xué)特性
- GB/T 30857-2014 藍(lán)寶石襯底片厚度及厚度變化測(cè)試方法
- GB/T 30867-2014 碳化硅單晶片厚度和總厚度變化測(cè)試方法
- GB/T 30869-2014 太陽能電池用硅片厚度及總厚度變化測(cè)試方法
- GB/T 29507-2013 硅片平整度、厚度及總厚度變化測(cè)試 自動(dòng)非接觸掃描法
- GB/T 20220-2006 塑料薄膜和薄片 .樣品平均厚度、卷平均厚度及單位質(zhì)量面積的測(cè)定.稱量法(稱量厚度)
- GB/T 25188-2010 硅晶片表面超薄氧化硅層厚度的測(cè)量 X射線光電子能譜法
CZ-CSN，關(guān)于分光片厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- CSN 64 0181-1986 膠片及薄片厚度測(cè)試方法
- CSN ISO 3497:1994 金屬涂層．涂層厚度測(cè)量．Ｘ射線分光光度法
- CSN ODH 02 1722-1963 厚墊片
- CSN ST SEV 1379-1978 電力機(jī)器．旋轉(zhuǎn)整流子片絕緣體．厚度組
英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于分光片厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- BS ISO 8255-1:2011 顯微鏡.蓋玻片.尺寸公差,厚度和光學(xué)特性.
- 10/30199317 DC BS ISO 8255-1 顯微鏡 蓋玻片 第1部分 尺寸公差、厚度和光學(xué)特性
- BS 5806:1979 云母塊、薄片、薄膜和碎片的厚度測(cè)量法
國際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于分光片厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- ISO 8255-1:2017 顯微鏡.蓋玻片.第1部分:尺寸公差,厚度和光學(xué)特性
- ISO 8255-1:2011 顯微鏡.蓋玻片.第1部分:尺寸公差,厚度和光學(xué)特性
- ISO 8255-1:1986 光學(xué)和光學(xué)儀器 顯微鏡 蓋玻片 第1部分:尺寸公差、厚度和光學(xué)性能
- ISO 4591:1992 塑料薄膜和薄片.樣品平均厚度,卷平均厚度及單位質(zhì)量面積的測(cè)定稱量法(稱量厚度)
日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì)，關(guān)于分光片厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- JIS H 0611:1994 硅片厚度、厚度變化及彎曲的測(cè)量方法
- JIS K 7130:1999 塑料.薄膜和片材.厚度測(cè)定
- JIS K 7130:1992 塑料薄膜和薄片厚度的試驗(yàn)方法
阿曼規(guī)格和計(jì)量局，關(guān)于分光片厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- OS GSO ISO 8255-1:2014 光學(xué)和光學(xué)儀器 顯微鏡 蓋玻片 第1部分：尺寸公差、厚度和光學(xué)特性
- OS GSO ISO 4591:2013 塑料 薄膜和片材 通過重量分析技術(shù)測(cè)定樣品的平均厚度以及卷的平均厚度和產(chǎn)量（重量分析厚度）
印度標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于分光片厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- IS 15270-1-2002 光學(xué)和光學(xué)儀器 顯微鏡 蓋玻片 第1部分：尺寸公差、厚度和光學(xué)特性
PL-PKN，關(guān)于分光片厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- PN D54051-1968 木工工具．鋸片厚度
美國材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)，關(guān)于分光片厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM F533-96 硅片的厚度及厚度變化的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM F533-02 硅片的厚度及厚度變化的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM F388-84 硅片上氧化層厚度測(cè)量
- ASTM F533-02a 硅片厚度及其變化測(cè)量方法
- ASTM F1530-94 用自動(dòng)無觸點(diǎn)掃描法測(cè)量硅片平整度、厚度和厚度變化的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM RR-F01-1016 2000 F1530-通過自動(dòng)非接觸式掃描測(cè)量硅片的平整度、厚度和厚度變化的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
海灣阿拉伯國家合作委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn)組織，關(guān)于分光片厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- GSO ISO 8255-1:2014 光學(xué)和光學(xué)儀器 顯微鏡 蓋玻片 第1部分：尺寸、厚度和光學(xué)特性的變化
- GSO ISO 4591:2013 塑料 薄膜和片材 通過重量分析技術(shù)測(cè)定樣品的平均厚度以及卷的平均厚度和產(chǎn)量（重量分析厚度）
- GSO ISO 24336:2007 片狀地板覆蓋物 確定部分浸入水中后膨脹的厚度
德國標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)，關(guān)于分光片厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- DIN 1542 1959-04x 鋼片（厚度為3至4.75毫米的中厚板）
- DIN ISO 8255-1:2003 光學(xué)和光學(xué)儀器 顯微鏡 蓋玻片 第1部分：尺寸公差、厚度和光學(xué)特性 (ISO 8255-1:1986)
- DIN V VDE V 0126-18-2-1:2007 太陽能硅片.第2-1部分:硅片幾何尺寸的測(cè)量.硅片厚度
- DIN 53105-1:1977 紙和紙板的厚度測(cè)定 第1部分：?jiǎn)螐埣埰钠骄穸?、體積密度及比積
- DIN 50441-1:1996 半導(dǎo)體工藝材料試驗(yàn).半導(dǎo)體片幾何尺寸測(cè)量.第1部分:厚度和厚度變化
- DIN EN 15042-2:2006 覆層厚度測(cè)量和表面波紋表征.第2部分:光熱法測(cè)量覆層厚度
- DIN V VDE V 0126-18-2-2:2007 太陽能硅片.第2-2部分:硅片幾何尺寸的測(cè)量.厚度的變化
- DIN EN 15042-2:2006-06 涂層厚度測(cè)量和表面波表面表征第2部分：光熱法涂層厚度測(cè)量指南
- DIN 58141-4:2009 光纖元件的測(cè)試.第4部分:光纖直徑和厚度的測(cè)定
- DIN 58141-4 E:2013-10 光纖元件的測(cè)量 第4部分：光纖直徑和厚度的測(cè)定
- DIN 58141-4:2014-08 光纖元件的測(cè)量第4部分：光纖直徑和厚度的測(cè)定
美國機(jī)動(dòng)車工程師協(xié)會(huì)，關(guān)于分光片厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- SAE J1058-1991 標(biāo)準(zhǔn)鋼片厚度和公差
- SAE J1058-2015 標(biāo)準(zhǔn)鋼片厚度和公差
- SAE J1058-1999 標(biāo)準(zhǔn)鋼片厚度和公差
- SAE J1058-1976 標(biāo)準(zhǔn)鋼片厚度和公差
法國標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于分光片厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- NF EN ISO 12625-3:2014 薄紙和薄紙產(chǎn)品 - 第 3 部分：厚度、多部分片材的平均厚度以及平均密度和松厚度的測(cè)定
- NF A91-139-2*NF EN 15042-2:2006 覆層厚度測(cè)量和表面波紋表征.第2部分:光熱法測(cè)量覆層厚度
- NF EN 15042-2:2006 使用表面波測(cè)量涂層厚度和表面表征 - 第 2 部分：涂層厚度光度測(cè)量指南
意大利統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于分光片厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- UNI EN ISO 9339-2:1999 光學(xué)和光學(xué)儀器 接觸鏡 鏡片厚度的確定 水凝膠接觸鏡
- UNI 8516:1983 片狀和顆粒狀塑料材料的薄膜和葉片 通過質(zhì)量厚度確定面積質(zhì)量和厚度
- UNI EN 15042-2:2006 涂層厚度測(cè)量和表面波表面表征 第2部分：光熱法涂層厚度測(cè)量指南
臺(tái)灣地方標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于分光片厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- CNS 6499-1980 云母片、薄片、薄層與裂片之厚度測(cè)量法
- CNS 13923-1997 塑料薄膜及薄片之厚度試驗(yàn)法
UNKNOWN，關(guān)于分光片厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- YB/T 045-93 鱗片石墨厚度測(cè)定方法
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-黑色冶金，關(guān)于分光片厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- YB/T 045-2005 鱗片石墨厚度測(cè)定方法
- YB/T 045-1993 鱗片石墨厚度測(cè)定方法
美國通用公司（大宇），關(guān)于分光片厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- GMKOREA EDS-T-2108-2011 離合器襯片厚度的測(cè)量
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-化工，關(guān)于分光片厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- HG/T 3009-1999 膠片及片基機(jī)械掃描法厚度的測(cè)定
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-氣象，關(guān)于分光片厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- QX/T 69-2024 氣溶膠光學(xué)厚度 太陽光度計(jì)法
西班牙標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于分光片厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- UNE-ISO 4591:2010 塑料 薄膜和片材 用重量分析技術(shù)測(cè)定樣品的平均厚度、卷的平均厚度和成品率（重量分析厚度）
- UNE-ISO 3034:2016 瓦楞纖維板 單片厚度的測(cè)定
- AENOR UNE-ISO 3034:2016 瓦楞纖維板 單片厚度的測(cè)定
- UNE-EN 15042-2:2007 涂層厚度測(cè)量和表面波表面表征 第2部分：光熱法涂層厚度測(cè)量指南
- AENOR UNE-EN 15042-2:2007 涂層厚度測(cè)量和表面波表面表征 第2部分：光熱法涂層厚度測(cè)量指南
BR-ABNT，關(guān)于分光片厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- ABNT P-PB-52-1964 鍍錫鋼片[鋼板]厚度與容差
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-輕工，關(guān)于分光片厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- QB/T 1268-1991 毛皮成品 試片厚度和寬度的測(cè)定
巴林國家計(jì)量局，關(guān)于分光片厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- BH GSO ISO 4591:2016 塑料 薄膜和片材 通過重量分析技術(shù)測(cè)定樣品的平均厚度以及卷的平均厚度和產(chǎn)量（重量分析厚度）
DE-VDA，關(guān)于分光片厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- VDA 2020-2006 汽車上光.玻璃厚度
瑞典標(biāo)準(zhǔn)研究所，關(guān)于分光片厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- SS 241013:1982 塑料薄膜和薄片厚度的測(cè)定
未注明發(fā)布機(jī)構(gòu)，關(guān)于分光片厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- JIS H 0611:1971 單晶硅片的厚度、錐度和拱度的測(cè)定方法
- P18-562 (1990-12-01) 粒狀材料 片狀顆粒的平均厚度測(cè)定
RO-ASRO，關(guān)于分光片厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- STAS 7200-1973 塑料制品．薄膜和薄片厚度測(cè)定
中國團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于分光片厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- T/GDATCM 0009-2023 厚樸（厚樸）煮散飲片
歐洲標(biāo)準(zhǔn)化委員會(huì)，關(guān)于分光片厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- EN 15042-2:2006 覆層厚度測(cè)量和表面波紋表征.第2部分:光熱法測(cè)量覆層厚度
IN-BIS，關(guān)于分光片厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- IS 9044-1979 測(cè)量云母塊、薄片、薄膜和云母片厚度的方法
南非標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于分光片厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- SANS 4591:2003 塑料薄膜和薄片樣品平均厚度，卷平均厚度及單位質(zhì)量面積的測(cè)定稱量法（稱量厚度）
PT-IPQ，關(guān)于分光片厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- NP 2214-1986 塑料材料．膠片和片材，痛過直接測(cè)量測(cè)量厚度
- NP 770-1988 紙片以及紙板．紙板密度的計(jì)算以及單一紙片厚度的測(cè)量
- NP 2211-1986 塑料材料．膠片和片材，通過重量分析對(duì)樣品的平均厚度進(jìn)行測(cè)量
國際半導(dǎo)體協(xié)會(huì)，關(guān)于分光片厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- SEMI MF 1530-0707-2007 通過自動(dòng)非接觸式掃描法測(cè)試硅片平整度、厚度及總厚度變化的方法
(美國)全國電氣制造商協(xié)會(huì)，關(guān)于分光片厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- NEMA MS 5-2003 診斷磁共振成像中切片厚度的測(cè)定
- NEMA MS 5-1991 診斷磁共振成像中切片厚度的測(cè)定
- NEMA MS 5-2018 診斷磁共振成像中切片厚度的測(cè)定
- NEMA MS 5-2010 診斷磁共振成像中切片厚度的測(cè)定
ECIA - Electronic Components Industry Association，關(guān)于分光片厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- CB-13-1990 X 射線熒光測(cè)量鍍層厚度
挪威標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于分光片厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- NS-EN 15042-2:2006 涂層厚度測(cè)量和表面波表面表征 第2部分：光熱法涂層厚度測(cè)量指南
立陶宛標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于分光片厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- LST EN 15042-2-2006 涂層厚度測(cè)量和表面波表面表征 第2部分：光熱法涂層厚度測(cè)量指南
俄羅斯標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于分光片厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- GOST 24680-1981 旋轉(zhuǎn)電機(jī).絕緣整流子壘片厚度系列
丹麥標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于分光片厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- DANSK DS/EN 15042-2:2006 涂層厚度測(cè)量和表面波表面表征 第2部分：光熱法涂層厚度測(cè)量指南
- DS/EN 15042-2:2006 涂層厚度測(cè)量和表面波表面表征 第2部分：光熱法涂層厚度測(cè)量指南
IT-UNI，關(guān)于分光片厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- UNI 7093-1972 照片．漫射光傳輸照片密度
美國電子元器件、組件及材料協(xié)會(huì)，關(guān)于分光片厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- ECA CB-13-1990 鍍層厚度測(cè)定的X射線熒光
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-機(jī)械，關(guān)于分光片厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- JB/T 12962.3-2016 能量色散X射線熒光光譜儀 第3部分：鍍層厚度分析儀
