電極片 厚度
本專題涉及電極片 厚度的標(biāo)準(zhǔn)有109條。
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類中，電極片 厚度涉及到金屬材料試驗(yàn)、半導(dǎo)體材料、絕緣流體、有色金屬、塑料、表面處理和鍍涂、鋼鐵產(chǎn)品、道路車輛裝置、旋轉(zhuǎn)電機(jī)、非金屬礦、攝影技術(shù)、橡膠和塑料制品、焊接、釬焊和低溫焊、制藥學(xué)、長(zhǎng)度和角度測(cè)量、分析化學(xué)、電子元器件綜合、太陽(yáng)能工程、建筑材料、有色金屬產(chǎn)品、電學(xué)、磁學(xué)、電和磁的測(cè)量、機(jī)床。
在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中，電極片 厚度涉及到電子技術(shù)專用材料、金屬物理性能試驗(yàn)方法、半金屬與半導(dǎo)體材料綜合、半金屬、化合物半導(dǎo)體材料、專用材料及其制品、建材原料礦、冶金輔助原料礦、金屬理化性能試驗(yàn)方法綜合、感光材料基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、合成樹脂、塑料基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、毛皮、皮革與人造革制品、、合成樹脂、塑料、材料防護(hù)、太陽(yáng)能、紙漿與紙板、電子測(cè)量與儀器綜合。
國(guó)家質(zhì)檢總局，關(guān)于電極片 厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 3389.5-1995 壓電陶瓷材料性能測(cè)試方法 圓片厚度伸縮振動(dòng)模式
- GB/T 30869-2014 太陽(yáng)能電池用硅片厚度及總厚度變化測(cè)試方法
- GB/T 6618-2009 硅片厚度和總厚度變化測(cè)試方法
- GB/T 6618-1995 硅片厚度和總厚度變化測(cè)試方法
- GB/T 30857-2014 藍(lán)寶石襯底片厚度及厚度變化測(cè)試方法
- GB/T 30867-2014 碳化硅單晶片厚度和總厚度變化測(cè)試方法
- GB/T 8014-1987 鋁及鋁合金陽(yáng)極氧化 陽(yáng)極氧化膜厚度的定義和有關(guān)測(cè)量厚度的規(guī)定
- GB/T 29507-2013 硅片平整度、厚度及總厚度變化測(cè)試 自動(dòng)非接觸掃描法
- GB/T 20220-2006 塑料薄膜和薄片 .樣品平均厚度、卷平均厚度及單位質(zhì)量面積的測(cè)定.稱量法(稱量厚度)
- GB/T 40279-2021 硅片表面薄膜厚度的測(cè)試 光學(xué)反射法
韓國(guó)科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于電極片 厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- KS D 0259-2012(2017) 測(cè)量的厚度 厚度不均或弓硅片方法
- KS D 0259-2022 硅片厚度、厚度偏差和彎曲度的測(cè)量方法
- KS D 0259-2012(2022) 硅片厚度、厚度變化和彎曲的測(cè)量方法
- KS D 0259-2012 硅片的厚度、厚度變化和彎曲度的測(cè)定方法
- KS D ISO 2177-2002(2022) 涂層厚度的測(cè)量.陽(yáng)極溶解庫(kù)侖法
- KS M 3089-2013 塑料薄膜及薄片厚度試驗(yàn)方法
- KS M 3089-2009 塑料薄膜和片材的厚度測(cè)定法
- KS D ISO 2177-2022 涂層厚度的測(cè)量 陽(yáng)極溶解庫(kù)侖法
- KS M 3089-1994 塑料薄膜及薄片厚度試驗(yàn)方法
- KS D ISO 2177-2002(2017) 涂層厚度的測(cè)量 - 陽(yáng)極溶解庫(kù)侖方法
- KS M ISO 4591-2023 塑料 薄膜和片材 通過(guò)重量技術(shù)測(cè)定樣品的平均厚度以及卷的平均厚度和產(chǎn)量（重量厚度）
- KS M ISO 4591:2007 塑料.薄片和薄膜.以重量分析技術(shù)(重量分析厚度)測(cè)定試樣的平均厚度和一卷的量和平均厚度
- KS M ISO 4593-2022 塑料 薄膜和片材 機(jī)械掃描厚度測(cè)定
CZ-CSN，關(guān)于電極片 厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- CSN 64 0181-1986 膠片及薄片厚度測(cè)試方法
- CSN ST SEV 1379-1978 電力機(jī)器．旋轉(zhuǎn)整流子片絕緣體．厚度組
- CSN ODH 02 1722-1963 厚墊片
- CSN 03 8150-1975 陽(yáng)極氧化鋁．涂層厚度及密封材料測(cè)量
日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì)，關(guān)于電極片 厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- JIS H 0611:1994 硅片厚度、厚度變化及彎曲的測(cè)量方法
- JIS K 7130:1999 塑料.薄膜和片材.厚度測(cè)定
- JIS K 7130:1992 塑料薄膜和薄片厚度的試驗(yàn)方法
- JIS H 8680-2:1998 鋁和鋁合金的陽(yáng)極氧化膜厚度試驗(yàn)方法.渦流電流法
- JIS H 8680:1993 鋁和鋁合金的陽(yáng)極氧化膜厚度試驗(yàn)方法
PL-PKN，關(guān)于電極片 厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- PN D54051-1968 木工工具．鋸片厚度
美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)，關(guān)于電極片 厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM F533-96 硅片的厚度及厚度變化的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM F533-02 硅片的厚度及厚度變化的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM F388-84 硅片上氧化層厚度測(cè)量
- ASTM F533-02a 硅片厚度及其變化測(cè)量方法
- ASTM F1530-94 用自動(dòng)無(wú)觸點(diǎn)掃描法測(cè)量硅片平整度、厚度和厚度變化的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM RR-F01-1016 2000 F1530-通過(guò)自動(dòng)非接觸式掃描測(cè)量硅片的平整度、厚度和厚度變化的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
法國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于電極片 厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- NF EN ISO 2128:2010 鋁及其合金的陽(yáng)極氧化.陽(yáng)極層厚度的測(cè)定.光學(xué)切片顯微鏡無(wú)損方法
- NF EN ISO 12625-3:2014 薄紙和薄紙產(chǎn)品 - 第 3 部分：厚度、多部分片材的平均厚度以及平均密度和松厚度的測(cè)定
- NF A91-111:1995 金屬鍍層.鍍層厚度的測(cè)量.陽(yáng)極分解的電量計(jì)法
- NF EN ISO 2177:2004 金屬涂層厚度測(cè)量陽(yáng)極溶解庫(kù)侖法
美國(guó)通用公司（北美），關(guān)于電極片 厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- GM GM4260P-1988 電解沉積物和陽(yáng)極涂層的測(cè)量厚度
- GM 9984070-2014 厚漿陰極電泳漆（第 8 期）
印度尼西亞標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于電極片 厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- SNI 07-0955-1989 陽(yáng)極涂層厚度測(cè)試方法
德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)，關(guān)于電極片 厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- DIN 1542 1959-04x 鋼片（厚度為3至4.75毫米的中厚板）
- DIN V VDE V 0126-18-2-1:2007 太陽(yáng)能硅片.第2-1部分:硅片幾何尺寸的測(cè)量.硅片厚度
- DIN 53105-1:1977 紙和紙板的厚度測(cè)定 第1部分：?jiǎn)螐埣埰钠骄穸?、體積密度及比積
美國(guó)機(jī)動(dòng)車工程師協(xié)會(huì)，關(guān)于電極片 厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- SAE J1058-1991 標(biāo)準(zhǔn)鋼片厚度和公差
- SAE J1058-2015 標(biāo)準(zhǔn)鋼片厚度和公差
- SAE J1058-1999 標(biāo)準(zhǔn)鋼片厚度和公差
- SAE J1058-1976 標(biāo)準(zhǔn)鋼片厚度和公差
臺(tái)灣地方標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于電極片 厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- CNS 6499-1980 云母片、薄片、薄層與裂片之厚度測(cè)量法
- CNS 13923-1997 塑料薄膜及薄片之厚度試驗(yàn)法
- CNS 8406-1989 鋁及鋁合金之陽(yáng)極氧化膜厚度試驗(yàn)法
俄羅斯標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于電極片 厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- GOST 24680-1981 旋轉(zhuǎn)電機(jī).絕緣整流子壘片厚度系列
美國(guó)通用公司（大宇），關(guān)于電極片 厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- GMKOREA EDS-T-2108-2011 離合器襯片厚度的測(cè)量
UNKNOWN，關(guān)于電極片 厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- YB/T 045-93 鱗片石墨厚度測(cè)定方法
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-黑色冶金，關(guān)于電極片 厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- YB/T 045-2005 鱗片石墨厚度測(cè)定方法
- YB/T 045-1993 鱗片石墨厚度測(cè)定方法
(美國(guó))福特汽車標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于電極片 厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- FORD FLTM EU-BQ 010-01-2000 陽(yáng)極化鋁的薄膜厚度測(cè)定
- FORD FLTM EU-BQ 010-1-2000 陽(yáng)極氧化鋁的薄膜厚度測(cè)量
- FORD FLTM BQ 010-01-2000 陽(yáng)極化鋁膜厚度測(cè)定的試驗(yàn)方法
- FORD FLTM BQ 010-1-2000 陽(yáng)極氧化鋁膜厚度測(cè)量的測(cè)試程序
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-化工，關(guān)于電極片 厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- HG/T 3009-1999 膠片及片基機(jī)械掃描法厚度的測(cè)定
BR-ABNT，關(guān)于電極片 厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- ABNT P-PB-52-1964 鍍錫鋼片[鋼板]厚度與容差
英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于電極片 厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- BS 5806:1979 云母塊、薄片、薄膜和碎片的厚度測(cè)量法
- BS EN ISO 2177:1995 金屬涂層 涂層厚度測(cè)量 陽(yáng)極溶解庫(kù)侖法
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-輕工，關(guān)于電極片 厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- QB/T 1268-1991 毛皮成品 試片厚度和寬度的測(cè)定
意大利統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于電極片 厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- UNI 8516:1983 片狀和顆粒狀塑料材料的薄膜和葉片 通過(guò)質(zhì)量厚度確定面積質(zhì)量和厚度
- UNI SPERIMENTALE 6916:1971 電焊機(jī)的分類與評(píng)級(jí) 厚度為中等和大厚度的鋼板用奧氏體不銹鋼或鎳合金電極的電焊機(jī)
- UNI 6717:1990 鋁和鋁合金的陽(yáng)極氧化 渦流法厚度測(cè)量
- UNI ISO 2177:1988 金屬涂層 涂層厚度測(cè)量 陽(yáng)極溶解庫(kù)侖法
- UNI EN ISO 2177:2004 金屬覆層 覆層厚度測(cè)量 陽(yáng)極溶解庫(kù)侖法
FI-SFS，關(guān)于電極片 厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- SFS-ISO 2177:1986 金屬涂層．涂層厚度測(cè)定．陽(yáng)極溶解電量測(cè)定法
西班牙標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于電極片 厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- UNE-ISO 3034:2016 瓦楞纖維板 單片厚度的測(cè)定
- AENOR UNE-ISO 3034:2016 瓦楞纖維板 單片厚度的測(cè)定
- UNE-EN 3773-006:2017 航空航天系列 單極斷路器 溫度補(bǔ)償型 額定電流為1A至25A 第006部分：厚度為6.3mm的葉片端子 產(chǎn)品規(guī)范
- UNE-ISO 4591:2010 塑料 薄膜和片材 用重量分析技術(shù)測(cè)定樣品的平均厚度、卷的平均厚度和成品率（重量分析厚度）
未注明發(fā)布機(jī)構(gòu)，關(guān)于電極片 厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- JIS H 0611:1971 單晶硅片的厚度、錐度和拱度的測(cè)定方法
- P18-562 (1990-12-01) 粒狀材料 片狀顆粒的平均厚度測(cè)定
瑞典標(biāo)準(zhǔn)研究所，關(guān)于電極片 厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- SS 241013:1982 塑料薄膜和薄片厚度的測(cè)定
丹麥標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于電極片 厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- DS/ISO 2177:1986 金屬鍍層. 鍍層厚度的測(cè)量. 陽(yáng)極分解的電量計(jì)法
中國(guó)團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于電極片 厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- T/GDATCM 0009-2023 厚樸（厚樸）煮散飲片
RO-ASRO，關(guān)于電極片 厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- STAS 7200-1973 塑料制品．薄膜和薄片厚度測(cè)定
IN-BIS，關(guān)于電極片 厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- IS 9044-1979 測(cè)量云母塊、薄片、薄膜和云母片厚度的方法
南非標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于電極片 厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- SANS 2177:1986 金屬鍍層．鍍層厚度的測(cè)量．陽(yáng)極分解的電量計(jì)法
- SANS 4591:2003 塑料薄膜和薄片樣品平均厚度，卷平均厚度及單位質(zhì)量面積的測(cè)定稱量法（稱量厚度）
- SANS 2177:2008 金屬鍍層.涂層厚度測(cè)量.陽(yáng)極溶解庫(kù)侖法
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于電極片 厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- ISO 2177:1985 金屬鍍層.鍍層厚度的測(cè)量.陽(yáng)極分解的電量計(jì)法
- ISO 4591:1992 塑料薄膜和薄片.樣品平均厚度,卷平均厚度及單位質(zhì)量面積的測(cè)定稱量法(稱量厚度)
國(guó)際電工委員會(huì)，關(guān)于電極片 厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- IECQ CS 033200-TW0004-2019 防硫化厚膜芯片電阻器
PT-IPQ，關(guān)于電極片 厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- NP 2214-1986 塑料材料．膠片和片材，痛過(guò)直接測(cè)量測(cè)量厚度
- NP 770-1988 紙片以及紙板．紙板密度的計(jì)算以及單一紙片厚度的測(cè)量
國(guó)際半導(dǎo)體協(xié)會(huì)，關(guān)于電極片 厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- SEMI MF 1530-0707-2007 通過(guò)自動(dòng)非接觸式掃描法測(cè)試硅片平整度、厚度及總厚度變化的方法
美國(guó)國(guó)防后勤局，關(guān)于電極片 厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- DLA MIL-M-38510/150 D VALID NOTICE 1-2009 微電路，數(shù)字，雙極，TTL，幅度比較器，單片硅
- DLA SMD-5962-88598 REV A-1990 硅單片雙極時(shí)鐘發(fā)生器/微循環(huán)長(zhǎng)度控制雙極化數(shù)字微電路
(美國(guó))全國(guó)電氣制造商協(xié)會(huì)，關(guān)于電極片 厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- NEMA MS 5-2003 診斷磁共振成像中切片厚度的測(cè)定
- NEMA MS 5-1991 診斷磁共振成像中切片厚度的測(cè)定
- NEMA MS 5-2018 診斷磁共振成像中切片厚度的測(cè)定
- NEMA MS 5-2010 診斷磁共振成像中切片厚度的測(cè)定
澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會(huì)，關(guān)于電極片 厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- AS 2039.1.4:1978 鋁及鋁合金陽(yáng)極氧化膜的測(cè)試方法 第1.4部分：厚度及相關(guān)性能測(cè)試 渦流法陽(yáng)極氧化膜的平均厚度
阿曼規(guī)格和計(jì)量局，關(guān)于電極片 厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- OS GSO ISO 4591:2013 塑料 薄膜和片材 通過(guò)重量分析技術(shù)測(cè)定樣品的平均厚度以及卷的平均厚度和產(chǎn)量（重量分析厚度）
巴林國(guó)家計(jì)量局，關(guān)于電極片 厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- BH GSO ISO 4591:2016 塑料 薄膜和片材 通過(guò)重量分析技術(shù)測(cè)定樣品的平均厚度以及卷的平均厚度和產(chǎn)量（重量分析厚度）
河北省標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于電極片 厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- DB13/T 1513-2012 電池極片輥壓設(shè)備
海灣阿拉伯國(guó)家合作委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn)組織，關(guān)于電極片 厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- GSO ISO 4591:2013 塑料 薄膜和片材 通過(guò)重量分析技術(shù)測(cè)定樣品的平均厚度以及卷的平均厚度和產(chǎn)量（重量分析厚度）
- GSO ISO 2177:2013 金屬涂層涂層厚度測(cè)量陽(yáng)極溶解比色法
YU-JUS，關(guān)于電極片 厚度的標(biāo)準(zhǔn)
- JUS C.A6.033-1989 金屬覆層．覆層厚度測(cè)量．陽(yáng)極溶解庫(kù)侖法
