原子力顯微鏡 納米

本專題涉及原子力顯微鏡 納米的標(biāo)準(zhǔn)有9條。

國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，原子力顯微鏡 納米涉及到試驗(yàn)條件和規(guī)程綜合、航空航天制造用材料、分析化學(xué)。

在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，原子力顯微鏡 納米涉及到基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法。

國家質(zhì)檢總局，關(guān)于原子力顯微鏡 納米的標(biāo)準(zhǔn)

• GB/T 27760-2011 利用Si（111）晶面原子臺階對原子力顯微鏡亞納米高度測量進(jìn)行校準(zhǔn)的方法

美國材料與試驗(yàn)協(xié)會，關(guān)于原子力顯微鏡 納米的標(biāo)準(zhǔn)

• ASTM E2859-11(2017) 使用原子力顯微鏡測量納米粒子的標(biāo)準(zhǔn)指南
• ASTM E285-08(2015) 使用原子力顯微鏡測量納米粒子的標(biāo)準(zhǔn)指南
• ASTM E2859-11(2023) 使用原子力顯微鏡測量納米粒子尺寸的標(biāo)準(zhǔn)指南
• ASTM E2530-06 用Si(111)單原子層級對原子力顯微鏡進(jìn)行次納米位移級的Z倍率校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)程

國際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于原子力顯微鏡 納米的標(biāo)準(zhǔn)

• ISO 13095:2014 表面化學(xué)分析. 原子力顯微鏡學(xué). 納米結(jié)構(gòu)測量用AFM探針柄輪廓的現(xiàn)場鑒定程序

英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會，關(guān)于原子力顯微鏡 納米的標(biāo)準(zhǔn)

• BS ISO 13095:2014 表面化學(xué)分析. 原子力顯微鏡學(xué). 納米結(jié)構(gòu)測量用AFM探針柄輪廓的現(xiàn)場鑒定程序

GSO，關(guān)于原子力顯微鏡 納米的標(biāo)準(zhǔn)

• GSO ISO 13095:2015 表面化學(xué)分析 原子力顯微鏡 用于納米結(jié)構(gòu)測量的原子力顯微鏡探針卡盤的原位表征程序
• BH GSO ISO 13095:2017 表面化學(xué)分析 原子力顯微鏡 用于納米結(jié)構(gòu)測量的 AFM 探針柄輪廓的原位表征程序

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可能用到的儀器設(shè)備