納米片衍射

本專題涉及納米片衍射的標(biāo)準(zhǔn)有107條。

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類中，納米片衍射涉及到化工產(chǎn)品、詞匯、物理學(xué)、化學(xué)、無(wú)損檢測(cè)、光學(xué)和光學(xué)測(cè)量、分析化學(xué)、長(zhǎng)度和角度測(cè)量、光學(xué)設(shè)備、粒度分析、篩分、半導(dǎo)體材料、表面處理和鍍涂、金屬材料試驗(yàn)、農(nóng)業(yè)和林業(yè)、電氣設(shè)備元件、電工器件、電學(xué)、磁學(xué)、電和磁的測(cè)量、計(jì)量學(xué)和測(cè)量綜合。

在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中，納米片衍射涉及到其他化工產(chǎn)品綜合、磨料與磨具、綜合技術(shù)、化學(xué)、Ｘ射線、磁粉、熒光及其他探傷儀器、電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、基礎(chǔ)學(xué)科綜合、無(wú)機(jī)化工原料綜合、電子元件綜合、發(fā)動(dòng)機(jī)總體、化合物半導(dǎo)體材料、稀有金屬及其合金分析方法、光學(xué)計(jì)量、醫(yī)用光學(xué)儀器設(shè)備與內(nèi)窺鏡、金屬物理性能試驗(yàn)方法、物質(zhì)成份分析儀器與環(huán)境監(jiān)測(cè)儀器、食品衛(wèi)生、、水產(chǎn)、漁業(yè)綜合、動(dòng)物檢疫、獸醫(yī)與疫病防治、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、物理學(xué)與力學(xué)、光學(xué)儀器綜合、連接器。

國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于納米片衍射的標(biāo)準(zhǔn)

• GB/T 37054-2018 納米技術(shù) 納米二氧化鈦中銳鈦礦型與金紅石型比率測(cè)定 X射線衍射法
• GB/T 37131-2018 納米技術(shù) 半導(dǎo)體納米粉體材料紫外-可見(jiàn)漫反射光譜的測(cè)試方法
• GB/T 19346.3-2021 非晶納米晶合金測(cè)試方法 第3部分：鐵基非晶單片試樣交流磁性能

歐洲標(biāo)準(zhǔn)化委員會(huì)，關(guān)于納米片衍射的標(biāo)準(zhǔn)

• EN ISO/TS 27687:2009 納米技術(shù).納米物體的術(shù)語(yǔ)和定義.納米粒子,納米纖維和納米片
• CEN ISO/TS 21357:2023 納米技術(shù) 通過(guò)靜態(tài)多重光散射（SMLS）評(píng)估液體分散體中納米物體的平均尺寸（ISO/TS 21357:2022）
• EN ISO 21363:2022 納米技術(shù) - 通過(guò)透射電子顯微鏡測(cè)定粒度分布的方案
• prEN ISO 21363:2021 納米技術(shù) 通過(guò)透射電子顯微鏡測(cè)量粒徑和形狀分布（ISO 21363:2020）

國(guó)家質(zhì)檢總局，關(guān)于納米片衍射的標(biāo)準(zhǔn)

• GB/T 32269-2015 納米科技 納米物體的術(shù)語(yǔ)和定義 納米顆粒、納米纖維和納米片
• GB/T 23413-2009 納米材料晶粒尺寸及微觀應(yīng)變的測(cè)定.X射線衍射線寬化法
• GB/T 30543-2014 納米技術(shù) 單壁碳納米管的透射電子顯微術(shù)表征方法
• GB/T 42208-2022 納米技術(shù) 多相體系中納米顆粒粒徑測(cè)量 透射電鏡圖像法
• GB/T 13221-2004 納米粉末粒度分布的測(cè)定 X 射線小角散射法
• GB/T 32869-2016 納米技術(shù) 單壁碳納米管的掃描電子顯微術(shù)和能量色散X射線譜表征方法
• GB/T 28044-2011(英文版) 透射電鏡納米材料生物效應(yīng)檢測(cè)方法總導(dǎo)則
• GB/T 28044-2011 納米材料生物效應(yīng)的透射電子顯微鏡檢測(cè)方法通則
• GB/T 44075-2024 納米技術(shù) 表面增強(qiáng)拉曼固相基片均勻性測(cè)量 拉曼成像分析法
• GB/Z 21738-2008 一維納米材料的基本結(jié)構(gòu).高分辨透射電子顯微鏡檢測(cè)方法
• GB/T 22462-2008 鋼表面納米、亞微米尺度薄膜.元素深度分布的定量測(cè)定.輝光放電原子發(fā)射光譜法

國(guó)際電工委員會(huì)，關(guān)于納米片衍射的標(biāo)準(zhǔn)

• IEC 113/179/CD:2012 ISO/TS 80004-2:納米技術(shù).詞匯.第2部分:納米物體:納米顆粒,納米纖維和納米片
• ISO TS 10797:2012 納米技術(shù).使用透射電子顯微鏡對(duì)單壁碳納米管進(jìn)行表征
• IEC TS 62607-2-5:2022 納米制造.關(guān)鍵控制特性.第2-5部分:碳納米管材料.垂直排列碳納米管的質(zhì)量密度:X射線吸收法
• ISO TS 22292:2021 納米技術(shù)——使用透射電子顯微鏡對(duì)棒支撐的納米物體進(jìn)行3D圖像重建
• IEC 62024-1:2017 高頻感應(yīng)元件?? - 電氣特性和測(cè)量方法 - 第1部分:納米級(jí)距離片式電感器

SCC，關(guān)于納米片衍射的標(biāo)準(zhǔn)

• SN-CEN ISO/TS 27687:2008 納米技術(shù) 納米物體的術(shù)語(yǔ)和定義 納米顆粒、納米纖維和納米片 (ISO/TS 27687:2008)
• DANSK DS/ISO/TS 10797:2012 納米技術(shù) 使用透射電子顯微鏡表征單壁碳納米管
• BS PD ISO/TS 10797:2012 納米技術(shù) 使用透射電子顯微鏡表征單壁碳納米管
• BS PD IEC TS 62607-2-5:2022 納米制造 關(guān)鍵控制特性 碳納米管材料 垂直排列碳納米管的質(zhì)量密度：X射線吸收法
• DANSK DS/ISO/TS 22292:2021 納米技術(shù) 使用透射電子顯微鏡重建棒狀納米物體的 3D 圖像
• BS PD ISO/TS 21357:2022 納米技術(shù) 通過(guò)靜態(tài)多重光散射（SMLS）評(píng)估液體分散體中納米物體的平均尺寸
• BS PD CEN ISO/TS 21357:2023 納米技術(shù) 通過(guò)靜態(tài)多重光散射（SMLS）評(píng)估液體分散體中納米物體的平均尺寸
• DANSK DS/ISO/TS 21357:2022 納米技術(shù) 通過(guò)靜態(tài)多重光散射 (SMLS) 評(píng)估液體分散體中納米物體的平均尺寸
• DANSK DS/ISO/TS 10798:2011 納米技術(shù) 使用掃描電子顯微鏡和能量色散 X 射線光譜分析表征單壁碳納米管
• SN-CEN ISO/TS 21357:2023 納米技術(shù) 通過(guò)靜態(tài)多重光散射（SMLS）評(píng)估液體分散體中納米物體的平均尺寸（ISO/TS 21357:2022）
• DIN CEN ISO/TS 21357:2023 納米技術(shù) 通過(guò)靜態(tài)多重光散射 (SMLS) 評(píng)估液體分散體中納米物體的平均尺寸 (ISO/TS 21357:2022)
• DANSK DS/ISO 21363:2020 納米技術(shù) 通過(guò)透射電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布
• NS-EN ISO 21363:2022 納米技術(shù) 通過(guò)透射電子顯微鏡測(cè)量粒度和形狀分布（ISO 21363:2020）
• DANSK DS/EN ISO 21363:2022 納米技術(shù) 通過(guò)透射電子顯微鏡測(cè)量粒度和形狀分布（ISO 21363:2020）
• AWWA ACE65563 低濃度紫外線阻隔納米粒子增強(qiáng)微生物對(duì)紫外線照射的抵抗力
• DIN EN ISO 21363 E:2021 納米技術(shù) 通過(guò)透射電子顯微鏡測(cè)量粒度和形狀分布 (ISO 21363:2020) 草案

英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于納米片衍射的標(biāo)準(zhǔn)

• PD ISO/TS 4971:2023 納米技術(shù) 含有粘土納米片的納米懸浮液用于群體猝滅的性能評(píng)估
• PD ISO/TS 10797:2012 納米技術(shù) 使用透射電子顯微鏡表征單壁碳納米管
• PD ISO/TS 22292:2021 納米技術(shù) 使用透射電子顯微鏡重建棒狀納米物體的 3D 圖像
• BS PD ISO/TS 22292:2021 納米技術(shù) 利用透射電子顯微鏡重建桿支撐納米物體的三維圖像
• PD CEN ISO/TS 21357:2023 納米技術(shù) 通過(guò)靜態(tài)多重光散射(SMLS)評(píng)估液體分散體中納米物體的平均尺寸
• DD ISO/TS 10798:2011 納米技術(shù) 使用掃描電子顯微鏡和能量色散 X 射線光譜分析表征單壁碳納米管
• BS ISO 24688:2022 小角X射線法測(cè)定納米多層涂層的調(diào)制周期
• BS EN ISO 21363:2022 納米技術(shù) 通過(guò)透射電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布
• BS ISO 21363:2020 納米技術(shù) 通過(guò)透射電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布
• 21/30437896 DC BS ISO 24688. 通過(guò)低角度 X 射線方法測(cè)定納米多層涂層的調(diào)制周期
• 18/30351714 DC BS ISO 21363 納米技術(shù) 通過(guò)透射電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布

丹麥標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于納米片衍射的標(biāo)準(zhǔn)

• DS/ISO/TS 10797:2012 納米技術(shù) 使用透射電子顯微鏡表征單壁碳納米管
• DS/ISO/TS 22292:2021 納米技術(shù) 使用透射電子顯微鏡對(duì)桿狀支撐的納米物體進(jìn)行 3D 圖像重建
• DS/ISO/TS 10798:2011 納米技術(shù) 使用掃描電子顯微鏡和能量色散 X 射線光譜分析法表征單壁碳納米管

法國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于納米片衍射的標(biāo)準(zhǔn)

• FD T16-209:2012 納米技術(shù) 使用透射電子顯微鏡表征單壁碳納米管
• NF EN ISO 10808:2011 納米技術(shù) - 通過(guò)暴露進(jìn)行吸入毒性測(cè)試來(lái)表征墊片中的納米顆粒
• XP T16-408*XP ISO/TS 21357:2022 納米技術(shù) 通過(guò)靜態(tài)多重光散射（SMLS）評(píng)估液體分散體中納米物體的平均尺寸
• XP CEN ISO/TS 21357:2023 納米技術(shù) - 通過(guò)靜態(tài)多重光散射 (DSML) 評(píng)估液體分散體中納米物體的平均尺寸
• FD T16-203:2011 納米技術(shù) 使用掃描電子顯微鏡和能量色散 X 射線光譜分析法表征單壁碳納米管
• NF T16-404:2020 納米技術(shù). 通過(guò)透射電子顯微鏡測(cè)量粒度和形狀分布
• NF T16-404*NF EN ISO 21363:2022 納米技術(shù) 通過(guò)透射電子顯微鏡測(cè)量粒徑和形狀分布
• NF EN ISO 21363:2022 納米技術(shù) - 通過(guò)透射電子顯微鏡測(cè)定顆粒尺寸和形狀分布

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于納米片衍射的標(biāo)準(zhǔn)

• GB/T 36081-2018 納米技術(shù) 硒化鎘量子點(diǎn)納米晶體表征 熒光發(fā)射光譜法
• GB/T 19346.2-2017 非晶納米晶合金測(cè)試方法 第2部分：帶材疊片系數(shù)
• GB/T 34168-2017 金、銀納米顆粒材料生物效應(yīng)的透射電子顯微鏡檢測(cè)方法

IX-IX-IEC，關(guān)于納米片衍射的標(biāo)準(zhǔn)

• IEC TS 62607-6-17:2023 納米制造 關(guān)鍵控制特性 第 6-17 部分：石墨烯基材料 階參數(shù)：X 射線衍射和透射電子顯微鏡

GSO，關(guān)于納米片衍射的標(biāo)準(zhǔn)

• GSO ISO 16129:2014 表面化學(xué)分析 納米 X 射線光譜 評(píng)估納米 X 射線光譜日常性能的程序

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于納米片衍射的標(biāo)準(zhǔn)

• ISO/TS 10797:2012 納米技術(shù).利用透射電子顯微鏡法進(jìn)行單壁碳納米管特征探測(cè)
• ISO/TS 22292:2021 納米技術(shù).用透射電子顯微鏡重建棒支撐納米物體的三維圖像
• ISO/TS 10798:2011 納米技術(shù).使用掃描電鏡與X射線能譜分析的單臂碳納米管的特征描述
• ISO/DTR 23652:2023 納米技術(shù) 用于性能評(píng)估的納米材料放射性同位素標(biāo)記方法的考慮因素
• ISO/TS 21357:2022 納米技術(shù).通過(guò)靜態(tài)多重光散射（SMLS）評(píng)估液體分散體中納米物體的平均尺寸
• ISO 24688:2022 低角X射線法測(cè)定納米多層膜的調(diào)制周期
• ISO 21363:2020 納米技術(shù) - 通過(guò)透射電子顯微鏡測(cè)定粒度分布的方案

GOSTR，關(guān)于納米片衍射的標(biāo)準(zhǔn)

• PNST 507-2020 納米技術(shù) 單壁碳納米管 使用透射電子顯微鏡和能量色散 X 射線光譜法進(jìn)行表征
• PNST 508-2020 納米技術(shù) 單壁碳納米管 通過(guò)掃描電子顯微鏡和能量色散 X 射線光譜法表征

RU-GOST R，關(guān)于納米片衍射的標(biāo)準(zhǔn)

• GOST R 8.698-2010 確保測(cè)量一致性的國(guó)家體系.納米粒子和薄膜的空間參數(shù).利用小角度X-射線散射衍射儀的測(cè)量方法

美國(guó)國(guó)防后勤局，關(guān)于納米片衍射的標(biāo)準(zhǔn)

• DLA DSCC-VID-V62/06637 REV A-2008 微電路，線性，納米功率監(jiān)控電路，單片硅
• DLA DSCC-DWG-94044-1996 矩形波瓣鍵控插座垂直式薄片表面安裝終端高密度納米型連接器

ES-UNE，關(guān)于納米片衍射的標(biāo)準(zhǔn)

• UNE-CEN ISO/TS 21357:2023 納米技術(shù) 通過(guò)靜態(tài)多重光散射(SMLS)評(píng)估液體分散體中納米物體的平均尺寸
• UNE-EN ISO 21363:2022 納米技術(shù) 通過(guò)透射電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布

韓國(guó)科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于納米片衍射的標(biāo)準(zhǔn)

• KS D 2716-2008(2018) 納米顆粒直徑的測(cè)量－透射電子顯微鏡
• KS D 2716-2008 納米粒子的直徑測(cè)量技術(shù).透射電子顯微鏡
• KS C IEC 62024-1-2017(2022) 高頻電感元件電特性和測(cè)量方法第1部分:納米亨利范圍芯片電感

KR-KS，關(guān)于納米片衍射的標(biāo)準(zhǔn)

• KS D 2716-2023 納米顆粒直徑的測(cè)量-透射電子顯微鏡
• KS C ISO 21363-2023 納米技術(shù)——用透射電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布
• KS C IEC 62024-1-2017 高頻電感元件電氣特性和測(cè)量方法第1部分:納米級(jí)片式電感

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-航空，關(guān)于納米片衍射的標(biāo)準(zhǔn)

• HB 20116-2012 航空發(fā)動(dòng)機(jī)葉片表面殘余應(yīng)力的測(cè)定X射線衍射法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-電子，關(guān)于納米片衍射的標(biāo)準(zhǔn)

• SJ 20714-1998 砷化鎵拋光片亞損傷層的X射線雙晶衍射試驗(yàn)方法

國(guó)家計(jì)量技術(shù)規(guī)范，關(guān)于納米片衍射的標(biāo)準(zhǔn)

• JJF 1335-1990 800～2000納米光譜反射比副基準(zhǔn)操作技術(shù)規(guī)范
• JJF 1322A-1990 250～2500納米光譜輻射亮度副基準(zhǔn)操作技術(shù)規(guī)范
• JJF 1322B-1990 250～2500納米光譜輻射照度副基準(zhǔn)操作技術(shù)規(guī)范
• JJF 1321-1990 250～2500納米光譜輻射亮度和照度基準(zhǔn)操作技術(shù)規(guī)范

PH-BPS，關(guān)于納米片衍射的標(biāo)準(zhǔn)

• PNS ISO 21363:2021 納米技術(shù).用透射電子顯微鏡測(cè)量粒度和形狀分布

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-商品檢驗(yàn)，關(guān)于納米片衍射的標(biāo)準(zhǔn)

• SN/T 2518-2010 貝類食品中食源性病毒檢測(cè)方法.納米磁珠-基因芯片法

中國(guó)團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于納米片衍射的標(biāo)準(zhǔn)

• T/CSTM 00922-2024 電力變壓器用電工鋼帶（片）晶粒取向性測(cè)定 電子背散射衍射（EBSD）法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-水產(chǎn)，關(guān)于納米片衍射的標(biāo)準(zhǔn)

• SC/T 7205.3-2007 牡蠣包納米蟲(chóng)病診斷規(guī)程 第3部分:透射電鏡診斷法
• SC/T 7205.1-2007 牡蠣包納米蟲(chóng)病診斷規(guī)程 第1部分:組織印片的細(xì)胞學(xué)診斷法

德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)，關(guān)于納米片衍射的標(biāo)準(zhǔn)

• DIN CEN ISO/TS 21357:2023-09 納米技術(shù) 通過(guò)靜態(tài)多重光散射 (SMLS) 評(píng)估液體分散體中納米物體的平均尺寸（ISO/TS 21357:2022）；德文版 CEN ISO/TS 21357:2023
• DIN EN ISO 21363:2022-03 納米技術(shù) - 通過(guò)透射電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布 (ISO 21363:2020)

美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)，關(guān)于納米片衍射的標(biāo)準(zhǔn)

• ASTM D8526-23 使用透射電子顯微鏡測(cè)定環(huán)境大氣中碳納米管和含碳納米管顆粒濃度的分析程序的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
• ASTM E3247-20 用動(dòng)態(tài)光散射測(cè)量水介質(zhì)中納米顆粒尺寸的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

TIA - Telecommunications Industry Association，關(guān)于納米片衍射的標(biāo)準(zhǔn)

• TIA-492AAAC-2002 850 納米激光優(yōu)化 50 微米纖芯直徑/125 微米包層直徑 Ia 級(jí)漸變折射率多模光纖的詳細(xì)規(guī)范
• TIA-492AAAC-B-2009 850 納米激光優(yōu)化 50 微米纖芯直徑/125 微米包層直徑 Ia 級(jí)漸變折射率多模光纖的詳細(xì)規(guī)范

AT-ON，關(guān)于納米片衍射的標(biāo)準(zhǔn)

• OENORM EN ISO 21363:2021 納米技術(shù) 通過(guò)透射電子顯微鏡測(cè)量粒徑和形狀分布（ISO 21363:2020）

未注明發(fā)布機(jī)構(gòu)，關(guān)于納米片衍射的標(biāo)準(zhǔn)

• DIN EN ISO 21363 E:2021-09 納米技術(shù) 通過(guò)透射電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布（草案）
• DIN EN ISO 21363:2022 納米技術(shù) – 使用透射電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和顆粒形狀分布

廣東省標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于納米片衍射的標(biāo)準(zhǔn)

• DB44/T 1215-2013 利用掃描電子顯微術(shù)和X射線能譜法表征單壁碳納米管的特性

本站其他標(biāo)準(zhǔn)專題： 納米片衍射，納米衍射，納米 衍射，納米片，衍射波片，納米炭片，納米片厚度，納米片結(jié)構(gòu)，納米片合成，釕納米片，納米片膜，納米微片，納米片 膜，納米 微片，銀 納米片，超 金 納米片，納米片能譜，半導(dǎo)體 納米片，石墨烯納米片，有機(jī)炔納米片厚度。

 

可能用到的儀器設(shè)備