原子力原子力顯微鏡

本專題涉及原子力原子力顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)有43條。

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類中，原子力原子力顯微鏡涉及到分析化學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)、航空航天制造用材料、熱力學(xué)和溫度測(cè)量、試驗(yàn)條件和規(guī)程綜合、光學(xué)和光學(xué)測(cè)量、長(zhǎng)度和角度測(cè)量、核能工程、陶瓷。

在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中，原子力原子力顯微鏡涉及到、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、基礎(chǔ)學(xué)科綜合、物理學(xué)與力學(xué)、勘探采礦和工藝監(jiān)測(cè)核儀器、放大鏡與顯微鏡、特種陶瓷、光學(xué)計(jì)量、電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器。

海灣阿拉伯國(guó)家合作委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn)組織，關(guān)于原子力原子力顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

• GSO ISO 13095:2015 表面化學(xué)分析 原子力顯微鏡 用于納米結(jié)構(gòu)測(cè)量的原子力顯微鏡探針卡盤的原位表征程序

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于原子力原子力顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

• ISO 23729:2022 表面化學(xué)分析.原子力顯微鏡.有限探針尺寸放大原子力顯微鏡圖像的恢復(fù)程序指南
• ISO 21222:2020 表面化學(xué)分析.掃描探針顯微鏡.用原子力顯微鏡和兩點(diǎn)JKR法測(cè)定柔順材料彈性模量的程序

英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于原子力原子力顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

• BS ISO 23729:2022 表面化學(xué)分析 原子力顯微鏡 有限探針尺寸擴(kuò)張的原子力顯微鏡圖像恢復(fù)程序指南
• 21/30412880 DC BS ISO 23729 表面化學(xué)分析 原子力顯微鏡 有限探針尺寸擴(kuò)張的原子力顯微鏡圖像恢復(fù)程序指南
• BS ISO 21222:2020 表面化學(xué)分析 掃描探針顯微鏡 使用原子力顯微鏡和兩點(diǎn) JKR 方法測(cè)定柔順材料彈性模量的程序

ESDU - Engineering Sciences Data Unit，關(guān)于原子力原子力顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

• SPB-M6-3-2010 08 年 4 月：原子力顯微鏡（技術(shù)背景）
• SPB-M2-1-2007 通過(guò)原子力顯微鏡研究瀝青質(zhì)的界面和流變學(xué)特性
• SPB-M6-1-2010 08 月 4 日：使用原子力顯微鏡研究瀝青質(zhì)的界面和流變特性
• SPB-M14-1-2010 月 10 日：通過(guò)原子力顯微鏡研究瀝青質(zhì)的相互作用和流變學(xué)性質(zhì)

中國(guó)團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于原子力原子力顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

• T/CSTM 00003-2019 二維材料厚度測(cè)量 原子力顯微鏡法
• T/QGCML 1940-2023 掃描電子顯微鏡原位高溫力學(xué)測(cè)試裝置
• T/GDASE 0008-2020 石墨烯薄膜楊氏模量的測(cè)定 原子力顯微鏡法
• T/SPSTS 031-2023 石墨烯材料表面電勢(shì)測(cè)量 原子力顯微術(shù)

美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)，關(guān)于原子力原子力顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

• ASTM E285-08(2015) 使用原子力顯微鏡測(cè)量納米粒子的標(biāo)準(zhǔn)指南
• ASTM E2859-11(2017) 使用原子力顯微鏡測(cè)量納米粒子的標(biāo)準(zhǔn)指南
• ASTM E2859-11(2023) 使用原子力顯微鏡測(cè)量納米粒子尺寸的標(biāo)準(zhǔn)指南
• ASTM E2859-11 利用原子力學(xué)顯微鏡進(jìn)行尺寸測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)指南
• ASTM E2382-04(2020) 掃描隧道顯微鏡和原子力顯微鏡中的掃描儀和尖端相關(guān)人工標(biāo)準(zhǔn)指南
• ASTM E2382-04 掃描隧道顯微鏡學(xué)和原子力顯微鏡學(xué)中掃描器和與觸點(diǎn)相關(guān)物品的指南
• ASTM E2382-04(2012) 掃描隧道顯微鏡學(xué)和原子力顯微鏡學(xué)中掃描器和與觸點(diǎn)相關(guān)物品的標(biāo)準(zhǔn)指南
• ASTM E2530-06 用Si(111)單原子層級(jí)對(duì)原子力顯微鏡進(jìn)行次納米位移級(jí)的Z倍率校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)程

國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于原子力原子力顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

• GB/T 40128-2021 表面化學(xué)分析 原子力顯微術(shù) 二硫化鉬片層材料厚度測(cè)量方法
• GB/T 40066-2021 納米技術(shù) 氧化石墨烯厚度測(cè)量 原子力顯微鏡法

未注明發(fā)布機(jī)構(gòu)，關(guān)于原子力原子力顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

• AMPP Paper 17739-2022 原位原子力顯微鏡研究碳鋼表面微結(jié)構(gòu)依賴性緩蝕劑吸附機(jī)理
• AMPP Paper 16610-2021 在位接觸模式原子力顯微鏡研究有機(jī)抑制劑吸附機(jī)制

國(guó)家質(zhì)檢總局，關(guān)于原子力原子力顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

• GB/T 31227-2014 原子力顯微鏡測(cè)量濺射薄膜表面粗糙度的方法
• GB/T 27760-2011 利用Si（111）晶面原子臺(tái)階對(duì)原子力顯微鏡亞納米高度測(cè)量進(jìn)行校準(zhǔn)的方法
• GB/T 32189-2015 氮化鎵單晶襯底表面粗糙度的原子力顯微鏡檢驗(yàn)法
• GB/T 28872-2012 活細(xì)胞樣品納米結(jié)構(gòu)的磁驅(qū)動(dòng)輕敲模式原子力顯微鏡檢測(cè)方法

德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)，關(guān)于原子力原子力顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

• DIN SPEC 52407:2015-03 納米技術(shù) 使用原子力顯微鏡(AFM)和透射掃描電子顯微鏡(TSEM)進(jìn)行粒子測(cè)量的準(zhǔn)備和評(píng)估方法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-核工業(yè)，關(guān)于原子力原子力顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

• EJ/T 20176-2018 金剛石刀具刃口鋒利度的原子力顯微鏡測(cè)量方法

美國(guó)防腐工程師協(xié)會(huì)，關(guān)于原子力原子力顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

• NACE Paper 14792-2020 有機(jī)抑制劑在低碳鋼上的原位原子力顯微鏡和電化學(xué)測(cè)量研究

美國(guó)給水工程協(xié)會(huì)，關(guān)于原子力原子力顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

• AWWA WQTC71603 利用原子力顯微鏡研究水質(zhì)對(duì)銅腐蝕初期發(fā)展的影響

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于原子力原子力顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

• GB/T 32262-2015 用于原子力顯微鏡檢測(cè)的脫氧核糖核酸樣品的制備方法
• GB/T 33714-2017 納米技術(shù) 納米顆粒尺寸測(cè)量 原子力顯微術(shù)

俄羅斯標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于原子力原子力顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

• GOST 8.593-2009 國(guó)家測(cè)量統(tǒng)一性保證體系.原子力掃描探針顯微鏡.鑒定方法
• GOST R 8.635-2007 國(guó)家測(cè)量統(tǒng)一性保證體系.原子力掃描探針顯微鏡.校準(zhǔn)方法
• GOST R 8.593-2009 確保測(cè)量一致性的國(guó)家體系.原子力掃描隧道顯微鏡.檢定規(guī)程

日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì)，關(guān)于原子力原子力顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

• JIS R 1683:2014 用原子力顯微鏡方法測(cè)定陶瓷薄膜表面粗糙度的試驗(yàn)方法
• JIS R 1683:2007 用原子力顯微鏡方法測(cè)定陶瓷薄膜表面粗糙度的試驗(yàn)方法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-機(jī)械，關(guān)于原子力原子力顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

• JB/T 5585-1991 透射電子顯微鏡分辨力測(cè)試方法

巴林國(guó)家計(jì)量局，關(guān)于原子力原子力顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

• BH GSO ISO 13095:2017 表面化學(xué)分析 原子力顯微鏡 用于納米結(jié)構(gòu)測(cè)量的 AFM 探針柄輪廓的原位表征程序

本站其他標(biāo)準(zhǔn)專題： 原子力原子力顯微鏡，+++++原子力 ，原子力，/原子力，原子原子力顯微鏡，原子力原子力顯微鏡樣品制備，原子與原子力，afm原子力，原子力掃描，快速原子力，原子力檢測(cè)，原子力倍率，原子力探針，原子力測(cè)量，原子力樣品，原子力 afm，原子力afm，afm 原子力，便攜原子力，水下原子力。

 

可能用到的儀器設(shè)備