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原子力顯微鏡輕敲模式
本專題涉及原子力顯微鏡輕敲模式的標(biāo)準(zhǔn)有5條。
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類中，原子力顯微鏡輕敲模式涉及到光學(xué)和光學(xué)測(cè)量、試驗(yàn)條件和規(guī)程綜合、分析化學(xué)。
在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中，原子力顯微鏡輕敲模式涉及到物理學(xué)與力學(xué)、光學(xué)計(jì)量、。
國(guó)家質(zhì)檢總局，關(guān)于原子力顯微鏡輕敲模式的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 28872-2012 活細(xì)胞樣品納米結(jié)構(gòu)的磁驅(qū)動(dòng)輕敲模式原子力顯微鏡檢測(cè)方法
中國(guó)團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于原子力顯微鏡輕敲模式的標(biāo)準(zhǔn)
- T/GDASE 0008-2020 石墨烯薄膜楊氏模量的測(cè)定 原子力顯微鏡法
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于原子力顯微鏡輕敲模式的標(biāo)準(zhǔn)
- ISO 21222:2020 表面化學(xué)分析.掃描探針顯微鏡.用原子力顯微鏡和兩點(diǎn)JKR法測(cè)定柔順材料彈性模量的程序
英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于原子力顯微鏡輕敲模式的標(biāo)準(zhǔn)
- BS ISO 21222:2020 表面化學(xué)分析 掃描探針顯微鏡 使用原子力顯微鏡和兩點(diǎn) JKR 方法測(cè)定柔順材料彈性模量的程序
- 19/30351707 DC BS ISO 21222 表面化學(xué)分析 掃描探針顯微鏡 使用原子力顯微鏡和兩點(diǎn) JKR 方法測(cè)定柔順材料彈性模量的程序
