原子力 顯微鏡
本專(zhuān)題涉及原子力 顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)有12條。
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)中，原子力 顯微鏡涉及到物理學(xué)、化學(xué)、長(zhǎng)度和角度測(cè)量、光學(xué)和光學(xué)測(cè)量、試驗(yàn)條件和規(guī)程綜合、分析化學(xué)、航空航天制造用材料。
在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)中，原子力 顯微鏡涉及到、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、基礎(chǔ)學(xué)科綜合、物理學(xué)與力學(xué)、光學(xué)計(jì)量。
中國(guó)團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于原子力 顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- T/CSTM 00003-2019 二維材料厚度測(cè)量 原子力顯微鏡法
國(guó)家質(zhì)檢總局，關(guān)于原子力 顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 31227-2014 原子力顯微鏡測(cè)量濺射薄膜表面粗糙度的方法
- GB/T 32189-2015 氮化鎵單晶襯底表面粗糙度的原子力顯微鏡檢驗(yàn)法
- GB/T 28872-2012 活細(xì)胞樣品納米結(jié)構(gòu)的磁驅(qū)動(dòng)輕敲模式原子力顯微鏡檢測(cè)方法
- GB/T 27760-2011 利用Si（111）晶面原子臺(tái)階對(duì)原子力顯微鏡亞納米高度測(cè)量進(jìn)行校準(zhǔn)的方法
國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于原子力 顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 40066-2021 納米技術(shù) 氧化石墨烯厚度測(cè)量 原子力顯微鏡法
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于原子力 顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- ISO 23729:2022 表面化學(xué)分析.原子力顯微鏡.有限探針尺寸放大原子力顯微鏡圖像的恢復(fù)程序指南
英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于原子力 顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- BS ISO 23729:2022 表面化學(xué)分析 原子力顯微鏡 有限探針尺寸擴(kuò)張的原子力顯微鏡圖像恢復(fù)程序指南
- 21/30412880 DC BS ISO 23729 表面化學(xué)分析 原子力顯微鏡 有限探針尺寸擴(kuò)張的原子力顯微鏡圖像恢復(fù)程序指南
ESDU - Engineering Sciences Data Unit，關(guān)于原子力 顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- SPB-M6-3-2010 08 年 4 月：原子力顯微鏡（技術(shù)背景）
GSO，關(guān)于原子力 顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- GSO ISO 13095:2015 表面化學(xué)分析 原子力顯微鏡 用于納米結(jié)構(gòu)測(cè)量的原子力顯微鏡探針卡盤(pán)的原位表征程序
美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)，關(guān)于原子力 顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM E285-08(2015) 使用原子力顯微鏡測(cè)量納米粒子的標(biāo)準(zhǔn)指南
