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x射線衍射儀 晶體
本專題涉及x射線衍射儀 晶體的標(biāo)準(zhǔn)有7條。
國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，x射線衍射儀 晶體涉及到化工產(chǎn)品、金屬生產(chǎn)、金屬材料試驗(yàn)、分析化學(xué)、教育。
在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，x射線衍射儀 晶體涉及到金屬化學(xué)分析方法綜合、物質(zhì)成份分析儀器與環(huán)境監(jiān)測儀器綜合、教學(xué)專用儀器、教育、學(xué)位、學(xué)銜、質(zhì)譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯(lián)用裝置、化學(xué)計(jì)量、電離輻射計(jì)量。
日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì)，關(guān)于x射線衍射儀 晶體的標(biāo)準(zhǔn)
- JIS H 7805:2005 用X射線衍射儀測定金屬晶體中晶粒大小的方法
國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于x射線衍射儀 晶體的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 37983-2019 晶體材料X射線衍射儀旋轉(zhuǎn)定向測試方法
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-教育，關(guān)于x射線衍射儀 晶體的標(biāo)準(zhǔn)
- JY/T 0588-2020 單晶X射線衍射儀測定小分子化合物的晶體及分子結(jié)構(gòu)分析方法通則
- JY/T 008-1996 四圓單晶X射線衍射儀測定小分子化合物的晶體及分子結(jié)構(gòu)分析方法通則
國家計(jì)量檢定規(guī)程，關(guān)于x射線衍射儀 晶體的標(biāo)準(zhǔn)
- JJG 629-2014 多晶X射線衍射儀檢定規(guī)程
- JJG 629-1989 多晶X射線衍射儀檢定規(guī)程
- JJG(地質(zhì)) 1014-1990 多晶X-射線衍射儀檢定規(guī)程
