顯微鏡原子力
本專題涉及顯微鏡原子力的標(biāo)準(zhǔn)有14條。
國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，顯微鏡原子力涉及到長度和角度測量、物理學(xué)、化學(xué)、光學(xué)和光學(xué)測量、分析化學(xué)、試驗條件和規(guī)程綜合。
在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，顯微鏡原子力涉及到、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、基礎(chǔ)學(xué)科綜合、放大鏡與顯微鏡、物理學(xué)與力學(xué)、光學(xué)計量。
美國材料與試驗協(xié)會，關(guān)于顯微鏡原子力的標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM E2382-04(2020) 掃描隧道顯微鏡和原子力顯微鏡中的掃描儀和尖端相關(guān)人工標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E2382-04 掃描隧道顯微鏡學(xué)和原子力顯微鏡學(xué)中掃描器和與觸點相關(guān)物品的指南
- ASTM E2382-04(2012) 掃描隧道顯微鏡學(xué)和原子力顯微鏡學(xué)中掃描器和與觸點相關(guān)物品的標(biāo)準(zhǔn)指南
中國團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于顯微鏡原子力的標(biāo)準(zhǔn)
- T/CSTM 00003-2019 二維材料厚度測量 原子力顯微鏡法
國家質(zhì)檢總局，關(guān)于顯微鏡原子力的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 32189-2015 氮化鎵單晶襯底表面粗糙度的原子力顯微鏡檢驗法
- GB/T 31227-2014 原子力顯微鏡測量濺射薄膜表面粗糙度的方法
- GB/T 28872-2012 活細(xì)胞樣品納米結(jié)構(gòu)的磁驅(qū)動輕敲模式原子力顯微鏡檢測方法
- GB/T 27760-2011 利用Si（111）晶面原子臺階對原子力顯微鏡亞納米高度測量進(jìn)行校準(zhǔn)的方法
國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會，關(guān)于顯微鏡原子力的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 40066-2021 納米技術(shù) 氧化石墨烯厚度測量 原子力顯微鏡法
- GB/T 40128-2021 表面化學(xué)分析 原子力顯微術(shù) 二硫化鉬片層材料厚度測量方法
國際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于顯微鏡原子力的標(biāo)準(zhǔn)
- ISO 21222:2020 表面化學(xué)分析.掃描探針顯微鏡.用原子力顯微鏡和兩點JKR法測定柔順材料彈性模量的程序
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會，關(guān)于顯微鏡原子力的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 32262-2015 用于原子力顯微鏡檢測的脫氧核糖核酸樣品的制備方法
英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會，關(guān)于顯微鏡原子力的標(biāo)準(zhǔn)
- BS ISO 21222:2020 表面化學(xué)分析 掃描探針顯微鏡 使用原子力顯微鏡和兩點 JKR 方法測定柔順材料彈性模量的程序
- 19/30351707 DC BS ISO 21222 表面化學(xué)分析 掃描探針顯微鏡 使用原子力顯微鏡和兩點 JKR 方法測定柔順材料彈性模量的程序
