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原子力顯微鏡 模式

本專題涉及原子力顯微鏡 模式的標(biāo)準(zhǔn)有102條。

國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，原子力顯微鏡 模式涉及到光學(xué)和光學(xué)測量、試驗條件和規(guī)程綜合、分析化學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)、航空航天制造用材料、熱力學(xué)和溫度測量、長度和角度測量、有色金屬、光學(xué)設(shè)備、核能工程、飼料、陶瓷、詞匯、空氣質(zhì)量、醫(yī)療設(shè)備、計量學(xué)和測量綜合、航空航天用流體系統(tǒng)和零部件。

在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，原子力顯微鏡 模式涉及到物理學(xué)與力學(xué)、光學(xué)計量、、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、放大鏡與顯微鏡、基礎(chǔ)學(xué)科綜合、勘探采礦和工藝監(jiān)測核儀器、電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、畜禽飼料與添加劑、特種陶瓷、醫(yī)療器械綜合、電磁計量、教育、學(xué)位、學(xué)銜、計量綜合、一般與顯微外科器械、技術(shù)管理、燃油系統(tǒng)及其附件。


國家質(zhì)檢總局，關(guān)于原子力顯微鏡 模式的標(biāo)準(zhǔn)

  • GB/T 28872-2012 活細(xì)胞樣品納米結(jié)構(gòu)的磁驅(qū)動輕敲模式原子力顯微鏡檢測方法
  • GB/T 31227-2014 原子力顯微鏡測量濺射薄膜表面粗糙度的方法
  • GB/T 32189-2015 氮化鎵單晶襯底表面粗糙度的原子力顯微鏡檢驗法
  • GB/T 27760-2011 利用Si（111）晶面原子臺階對原子力顯微鏡亞納米高度測量進(jìn)行校準(zhǔn)的方法

中國團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于原子力顯微鏡 模式的標(biāo)準(zhǔn)

國際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于原子力顯微鏡 模式的標(biāo)準(zhǔn)

  • ISO 23729:2022 表面化學(xué)分析.原子力顯微鏡.有限探針尺寸放大原子力顯微鏡圖像的恢復(fù)程序指南
  • ISO 21222:2020 表面化學(xué)分析.掃描探針顯微鏡.用原子力顯微鏡和兩點JKR法測定柔順材料彈性模量的程序
  • ISO 8036:2006 光學(xué)和光子學(xué).顯微鏡.光學(xué)顯微鏡浸液
  • ISO/TS 21383:2021 微束分析.掃描電子顯微鏡.定量測量用掃描電子顯微鏡的鑒定
  • ISO/DIS 25498:2024 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進(jìn)行選區(qū)電子衍射分析
  • ISO/CD 25498:2023 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進(jìn)行選區(qū)電子衍射分析
  • ISO 25498:2018 微光束分析.解析電子顯微測定法.透射式電子顯微鏡對選定區(qū)域進(jìn)行電子衍射分析
  • ISO 25498:2010 微光束分析.解析電子顯微測定法.透射式電子顯微鏡對選定區(qū)域進(jìn)行電子衍射分析
  • ISO 15932:2013 微光束分析.分析電子顯微鏡.詞匯

英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會，關(guān)于原子力顯微鏡 模式的標(biāo)準(zhǔn)

  • BS ISO 23729:2022 表面化學(xué)分析 原子力顯微鏡 有限探針尺寸擴張的原子力顯微鏡圖像恢復(fù)程序指南
  • 21/30412880 DC BS ISO 23729 表面化學(xué)分析 原子力顯微鏡 有限探針尺寸擴張的原子力顯微鏡圖像恢復(fù)程序指南
  • BS ISO 21222:2020 表面化學(xué)分析 掃描探針顯微鏡 使用原子力顯微鏡和兩點 JKR 方法測定柔順材料彈性模量的程序
  • 19/30351707 DC BS ISO 21222 表面化學(xué)分析 掃描探針顯微鏡 使用原子力顯微鏡和兩點 JKR 方法測定柔順材料彈性模量的程序
  • 18/30319114 DC BS ISO 20171 微束分析 掃描電子顯微鏡 用于掃描電子顯微鏡（TIFF/SEM）的標(biāo)記圖像文件格式
  • BS ISO 25498:2018 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進(jìn)行選區(qū)電子衍射分析
  • BS ISO 11884-2:2007 光學(xué)和光子學(xué).立體顯微鏡的最低要求.高性能顯微鏡
  • BS ISO 8036:2006 光學(xué)和光子學(xué).顯微鏡.光學(xué)顯微學(xué)的浸液
  • BS ISO 11884-1:2006 光學(xué)和光子學(xué).體視顯微鏡的最低要求.通用體視顯微鏡
  • 24/30479937 DC BS ISO 25498 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進(jìn)行選區(qū)電子衍射分析
  • BS ISO 25498:2010 微光束分析.解析電子顯微測定法.透射式電子顯微鏡對選定區(qū)域進(jìn)行電子衍射分析
  • BS ISO 8255-2:2013 顯微鏡. 蓋玻片. 材料質(zhì)量, 成品標(biāo)準(zhǔn)和包裝模式

ESDU - Engineering Sciences Data Unit，關(guān)于原子力顯微鏡 模式的標(biāo)準(zhǔn)

  • SPB-M6-3-2010 08 年 4 月：原子力顯微鏡（技術(shù)背景）
  • SPB-M2-1-2007 通過原子力顯微鏡研究瀝青質(zhì)的界面和流變學(xué)特性
  • SPB-M6-1-2010 08 月 4 日：使用原子力顯微鏡研究瀝青質(zhì)的界面和流變特性
  • SPB-M14-1-2010 月 10 日：通過原子力顯微鏡研究瀝青質(zhì)的相互作用和流變學(xué)性質(zhì)

GSO，關(guān)于原子力顯微鏡 模式的標(biāo)準(zhǔn)

國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會，關(guān)于原子力顯微鏡 模式的標(biāo)準(zhǔn)

  • GB/T 40128-2021 表面化學(xué)分析 原子力顯微術(shù) 二硫化鉬片層材料厚度測量方法
  • GB/T 40066-2021 納米技術(shù) 氧化石墨烯厚度測量 原子力顯微鏡法

美國材料與試驗協(xié)會，關(guān)于原子力顯微鏡 模式的標(biāo)準(zhǔn)

  • ASTM E285-08(2015) 使用原子力顯微鏡測量納米粒子的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E2859-11(2017) 使用原子力顯微鏡測量納米粒子的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E2382-04(2020) 掃描隧道顯微鏡和原子力顯微鏡中的掃描儀和尖端相關(guān)人工標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E2382-04 掃描隧道顯微鏡學(xué)和原子力顯微鏡學(xué)中掃描器和與觸點相關(guān)物品的指南
  • ASTM E2859-11(2023) 使用原子力顯微鏡測量納米粒子尺寸的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E2382-04(2012) 掃描隧道顯微鏡學(xué)和原子力顯微鏡學(xué)中掃描器和與觸點相關(guān)物品的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E2859-11 利用原子力學(xué)顯微鏡進(jìn)行尺寸測量的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E2530-06 用Si(111)單原子層級對原子力顯微鏡進(jìn)行次納米位移級的Z倍率校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)程

韓國科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于原子力顯微鏡 模式的標(biāo)準(zhǔn)

德國標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會，關(guān)于原子力顯微鏡 模式的標(biāo)準(zhǔn)

  • DIN SPEC 52407:2015-03 納米技術(shù) 使用原子力顯微鏡(AFM)和透射掃描電子顯微鏡(TSEM)進(jìn)行粒子測量的準(zhǔn)備和評估方法
  • DIN 58272:2009 醫(yī)療器械.精制顯微鏡鑷子
  • DIN 58272:2016 醫(yī)療器械.精制顯微鏡鑷子
  • DIN 58272:1983 醫(yī)療器械；精制顯微鏡鑷子

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-核工業(yè)，關(guān)于原子力顯微鏡 模式的標(biāo)準(zhǔn)

  • EJ/T 20176-2018 金剛石刀具刃口鋒利度的原子力顯微鏡測量方法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-機械，關(guān)于原子力顯微鏡 模式的標(biāo)準(zhǔn)

日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會，關(guān)于原子力顯微鏡 模式的標(biāo)準(zhǔn)

SCC，關(guān)于原子力顯微鏡 模式的標(biāo)準(zhǔn)

  • AWWA WQTC71603 利用原子力顯微鏡研究水質(zhì)對銅腐蝕初期發(fā)展的影響
  • AWWA ACE56156 使用平板掃描儀和掃描電子顯微鏡評估膜表面污染模式
  • BS ISO 22493:2008 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯

美國國防部標(biāo)準(zhǔn)化文件（含MIL標(biāo)準(zhǔn)），關(guān)于原子力顯微鏡 模式的標(biāo)準(zhǔn)

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會，關(guān)于原子力顯微鏡 模式的標(biāo)準(zhǔn)

RU-GOST R，關(guān)于原子力顯微鏡 模式的標(biāo)準(zhǔn)

  • GOST 8.593-2009 國家測量統(tǒng)一性保證體系.原子力掃描探針顯微鏡.鑒定方法
  • GOST R 8.635-2007 國家測量統(tǒng)一性保證體系.原子力掃描探針顯微鏡.校準(zhǔn)方法
  • GOST R 8.593-2009 確保測量一致性的國家體系.原子力掃描隧道顯微鏡.檢定規(guī)程

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-醫(yī)藥，關(guān)于原子力顯微鏡 模式的標(biāo)準(zhǔn)

  • YY 1296-2016 光學(xué)和光子學(xué)手術(shù)顯微鏡眼科用手術(shù)顯微鏡的光危害

法國標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會，關(guān)于原子力顯微鏡 模式的標(biāo)準(zhǔn)

KR-KS，關(guān)于原子力顯微鏡 模式的標(biāo)準(zhǔn)

國家計量檢定規(guī)程，關(guān)于原子力顯微鏡 模式的標(biāo)準(zhǔn)

國家計量技術(shù)規(guī)范，關(guān)于原子力顯微鏡 模式的標(biāo)準(zhǔn)

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-教育，關(guān)于原子力顯微鏡 模式的標(biāo)準(zhǔn)

美國機動車工程師協(xié)會，關(guān)于原子力顯微鏡 模式的標(biāo)準(zhǔn)

  • SAE ARP598C-2003 (R)液體動力系統(tǒng)的航空顯微鏡粒度法和微粒子污染

HU-MSZT，關(guān)于原子力顯微鏡 模式的標(biāo)準(zhǔn)



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