原子力顯微鏡 襯底
本專題涉及原子力顯微鏡 襯底的標(biāo)準(zhǔn)有115條。
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類中，原子力顯微鏡 襯底涉及到分析化學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)、光學(xué)設(shè)備、航空航天制造用材料、熱力學(xué)和溫度測(cè)量、長(zhǎng)度和角度測(cè)量、有色金屬、試驗(yàn)條件和規(guī)程綜合、光學(xué)和光學(xué)測(cè)量、核能工程、飼料、陶瓷、詞匯、空氣質(zhì)量、醫(yī)療設(shè)備、計(jì)量學(xué)和測(cè)量綜合、航空航天用流體系統(tǒng)和零部件、焊接、釬焊和低溫焊、建筑材料。
在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中，原子力顯微鏡 襯底涉及到、放大鏡與顯微鏡、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、基礎(chǔ)學(xué)科綜合、物理學(xué)與力學(xué)、勘探采礦和工藝監(jiān)測(cè)核儀器、電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、畜禽飼料與添加劑、特種陶瓷、光學(xué)計(jì)量、醫(yī)療器械綜合、電磁計(jì)量、教育、學(xué)位、學(xué)銜、一般與顯微外科器械、技術(shù)管理、計(jì)量綜合、燃油系統(tǒng)及其附件、光電子器件綜合。
國(guó)家質(zhì)檢總局，關(guān)于原子力顯微鏡 襯底的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 32189-2015 氮化鎵單晶襯底表面粗糙度的原子力顯微鏡檢驗(yàn)法
- GB/T 31227-2014 原子力顯微鏡測(cè)量濺射薄膜表面粗糙度的方法
- GB/T 27760-2011 利用Si（111）晶面原子臺(tái)階對(duì)原子力顯微鏡亞納米高度測(cè)量進(jìn)行校準(zhǔn)的方法
- GB/T 28872-2012 活細(xì)胞樣品納米結(jié)構(gòu)的磁驅(qū)動(dòng)輕敲模式原子力顯微鏡檢測(cè)方法
- GB 7667-1996 電子顯微鏡X射線泄漏劑量
- GB 7667-2003 電子顯微鏡X射線泄漏劑量
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于原子力顯微鏡 襯底的標(biāo)準(zhǔn)
- ISO 23729:2022 表面化學(xué)分析.原子力顯微鏡.有限探針尺寸放大原子力顯微鏡圖像的恢復(fù)程序指南
- ISO 8036:2006 光學(xué)和光子學(xué).顯微鏡.光學(xué)顯微鏡浸液
- ISO 21222:2020 表面化學(xué)分析.掃描探針顯微鏡.用原子力顯微鏡和兩點(diǎn)JKR法測(cè)定柔順材料彈性模量的程序
- ISO/TS 21383:2021 微束分析.掃描電子顯微鏡.定量測(cè)量用掃描電子顯微鏡的鑒定
- ISO/DIS 25498:2024 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進(jìn)行選區(qū)電子衍射分析
- ISO/CD 25498:2023 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進(jìn)行選區(qū)電子衍射分析
- ISO 15932:2013 微光束分析.分析電子顯微鏡.詞匯
- ISO/CD 19214:2023 微束分析 分析電子顯微鏡 透射電子顯微鏡測(cè)定線狀晶體表觀生長(zhǎng)方向的方法
- ISO 11884-2:2007 光學(xué)和光子學(xué).立體顯微鏡的最低要求.第2部分:高性能顯微鏡
- ISO 19214:2024 微束分析 分析電子顯微鏡 用透射電子顯微鏡測(cè)定納米晶體表觀生長(zhǎng)方向的方法
- ISO 11884-1:2006 光學(xué)和光子學(xué).體視顯微鏡的最低要求.第1部分:通用體視顯微鏡
海灣阿拉伯國(guó)家合作委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn)組織，關(guān)于原子力顯微鏡 襯底的標(biāo)準(zhǔn)
- GSO ISO 13095:2015 表面化學(xué)分析 原子力顯微鏡 用于納米結(jié)構(gòu)測(cè)量的原子力顯微鏡探針卡盤的原位表征程序
- GSO ISO 8036:2015 光學(xué)和光子學(xué) 顯微鏡 用于光學(xué)顯微鏡的浸沒(méi)液
- GSO ISO 25498:2015 微束分析 分析掃描電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進(jìn)行選區(qū)電子衍射分析
- GSO ISO 15932:2015 微量分析 分析電子顯微鏡 詞匯
- GSO ISO 22493:2015 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于原子力顯微鏡 襯底的標(biāo)準(zhǔn)
- BS ISO 23729:2022 表面化學(xué)分析 原子力顯微鏡 有限探針尺寸擴(kuò)張的原子力顯微鏡圖像恢復(fù)程序指南
- 21/30412880 DC BS ISO 23729 表面化學(xué)分析 原子力顯微鏡 有限探針尺寸擴(kuò)張的原子力顯微鏡圖像恢復(fù)程序指南
- BS ISO 21222:2020 表面化學(xué)分析 掃描探針顯微鏡 使用原子力顯微鏡和兩點(diǎn) JKR 方法測(cè)定柔順材料彈性模量的程序
- BS ISO 25498:2018 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進(jìn)行選區(qū)電子衍射分析
- BS ISO 11884-2:2007 光學(xué)和光子學(xué).立體顯微鏡的最低要求.高性能顯微鏡
- 19/30351707 DC BS ISO 21222 表面化學(xué)分析 掃描探針顯微鏡 使用原子力顯微鏡和兩點(diǎn) JKR 方法測(cè)定柔順材料彈性模量的程序
- BS ISO 11884-1:2006 光學(xué)和光子學(xué).體視顯微鏡的最低要求.通用體視顯微鏡
- BS ISO 8036:2006 光學(xué)和光子學(xué).顯微鏡.光學(xué)顯微學(xué)的浸液
- 24/30479937 DC BS ISO 25498 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進(jìn)行選區(qū)電子衍射分析
- BS ISO 22493:2008 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
- BS ISO 19214:2024 微束分析 分析電子顯微鏡 透射電子顯微鏡測(cè)定納米晶體表觀生長(zhǎng)方向的方法
- 18/30319114 DC BS ISO 20171 微束分析 掃描電子顯微鏡 用于掃描電子顯微鏡（TIFF/SEM）的標(biāo)記圖像文件格式
- 06/30128226 DC ISO 22493 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
ESDU - Engineering Sciences Data Unit，關(guān)于原子力顯微鏡 襯底的標(biāo)準(zhǔn)
- SPB-M6-3-2010 08 年 4 月：原子力顯微鏡（技術(shù)背景）
- SPB-M2-1-2007 通過(guò)原子力顯微鏡研究瀝青質(zhì)的界面和流變學(xué)特性
- SPB-M6-1-2010 08 月 4 日：使用原子力顯微鏡研究瀝青質(zhì)的界面和流變特性
- SPB-M14-1-2010 月 10 日：通過(guò)原子力顯微鏡研究瀝青質(zhì)的相互作用和流變學(xué)性質(zhì)
中國(guó)團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于原子力顯微鏡 襯底的標(biāo)準(zhǔn)
- T/CSTM 00003-2019 二維材料厚度測(cè)量 原子力顯微鏡法
- T/QGCML 1940-2023 掃描電子顯微鏡原位高溫力學(xué)測(cè)試裝置
- T/GDASE 0008-2020 石墨烯薄膜楊氏模量的測(cè)定 原子力顯微鏡法
- T/CSTM 00162-2020 透射電子顯微鏡校準(zhǔn)方法
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-機(jī)械，關(guān)于原子力顯微鏡 襯底的標(biāo)準(zhǔn)
- JB/T 7398.11-1994 顯微鏡.相襯裝置
- JB/T 5585-1991 透射電子顯微鏡分辨力測(cè)試方法
- JB/T 5480-1991 電子顯微鏡用光闌
- JB/T 5481-1991 電子顯微鏡用燈絲
- JB/T 5383-1991 透射電子顯微鏡技術(shù)條件
- JB/T 9352-1999 透射電子顯微鏡 試驗(yàn)方法
- JB/T 5384-1991 掃描電子顯微鏡.技術(shù)條件
- JB/T 6842-1993 掃描電子顯微鏡試驗(yàn)方法
美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)，關(guān)于原子力顯微鏡 襯底的標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM E285-08(2015) 使用原子力顯微鏡測(cè)量納米粒子的標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E2859-11(2017) 使用原子力顯微鏡測(cè)量納米粒子的標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E2382-04(2020) 掃描隧道顯微鏡和原子力顯微鏡中的掃描儀和尖端相關(guān)人工標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E2382-04 掃描隧道顯微鏡學(xué)和原子力顯微鏡學(xué)中掃描器和與觸點(diǎn)相關(guān)物品的指南
- ASTM E2859-11(2023) 使用原子力顯微鏡測(cè)量納米粒子尺寸的標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E2382-04(2012) 掃描隧道顯微鏡學(xué)和原子力顯微鏡學(xué)中掃描器和與觸點(diǎn)相關(guān)物品的標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E2859-11 利用原子力學(xué)顯微鏡進(jìn)行尺寸測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM STP 372-1965 電子顯微鏡技術(shù)
- ASTM E2530-06 用Si(111)單原子層級(jí)對(duì)原子力顯微鏡進(jìn)行次納米位移級(jí)的Z倍率校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)程
國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于原子力顯微鏡 襯底的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 40128-2021 表面化學(xué)分析 原子力顯微術(shù) 二硫化鉬片層材料厚度測(cè)量方法
- GB/T 40066-2021 納米技術(shù) 氧化石墨烯厚度測(cè)量 原子力顯微鏡法
德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)，關(guān)于原子力顯微鏡 襯底的標(biāo)準(zhǔn)
- DIN SPEC 52407:2015-03 納米技術(shù) 使用原子力顯微鏡(AFM)和透射掃描電子顯微鏡(TSEM)進(jìn)行粒子測(cè)量的準(zhǔn)備和評(píng)估方法
- DIN 58272:2009 醫(yī)療器械.精制顯微鏡鑷子
- DIN 58272:2016 醫(yī)療器械.精制顯微鏡鑷子
- DIN 58272:1983 醫(yī)療器械；精制顯微鏡鑷子
韓國(guó)科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于原子力顯微鏡 襯底的標(biāo)準(zhǔn)
- KS D 2714-2016(2021) 掃描探針顯微鏡－側(cè)向力顯微鏡法
- KS D 2714-2016 橫向力顯微鏡掃描探針顯微鏡方法
- KS D 2714-2021 掃描探針顯微鏡 側(cè)向力顯微鏡方法
- KS D ISO 22493:2022 微束分析.掃描電子顯微鏡.詞匯
- KS D ISO 22493-2012(2017) 微束分析掃描電子顯微鏡詞匯
- KS D ISO 22493-2022 微束分析.掃描電子顯微鏡.詞匯
- KS B ISO 11884-2-2011(2021) 光學(xué)和光子學(xué)立體顯微鏡最低要求第2部分:高性能顯微鏡
- KS D ISO 22493:2012 微光束分析.掃描電子顯微鏡.術(shù)語(yǔ)
- KS B ISO 11884-2-2011(2016) 光學(xué)和光子學(xué)立體顯微鏡最低要求第2部分:高性能顯微鏡
- KS B ISO 11884-2:2011 光學(xué)和光子學(xué).立體顯微鏡的最低要求.第2部分:高性能顯微鏡
- KS B ISO 11884-2-2021 光學(xué)與光子學(xué) 體視顯微鏡的最低要求 第2部分：高性能顯微鏡
- KS M 0044-1999 掃描電子顯微鏡的一般規(guī)則
- KS I 0051-1999(2019) 掃描電子顯微鏡的一般規(guī)則
- KS I 0051-2019 掃描電子顯微鏡的一般規(guī)則
未注明發(fā)布機(jī)構(gòu)，關(guān)于原子力顯微鏡 襯底的標(biāo)準(zhǔn)
- AMPP Paper 17739-2022 原位原子力顯微鏡研究碳鋼表面微結(jié)構(gòu)依賴性緩蝕劑吸附機(jī)理
- AMPP Paper 16610-2021 在位接觸模式原子力顯微鏡研究有機(jī)抑制劑吸附機(jī)制
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-核工業(yè)，關(guān)于原子力顯微鏡 襯底的標(biāo)準(zhǔn)
- EJ/T 20176-2018 金剛石刀具刃口鋒利度的原子力顯微鏡測(cè)量方法
阿曼規(guī)格和計(jì)量局，關(guān)于原子力顯微鏡 襯底的標(biāo)準(zhǔn)
- OS GSO ISO 8036:2015 光學(xué)和光子學(xué) 顯微鏡 光學(xué)顯微鏡用浸沒(méi)液體
- OS GSO ISO 25498:2015 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進(jìn)行選區(qū)電子衍射分析
- OS GSO ISO 15932:2015 微束分析 分析電子顯微鏡 詞匯
美國(guó)給水工程協(xié)會(huì)，關(guān)于原子力顯微鏡 襯底的標(biāo)準(zhǔn)
- AWWA WQTC71603 利用原子力顯微鏡研究水質(zhì)對(duì)銅腐蝕初期發(fā)展的影響
美國(guó)防腐工程師協(xié)會(huì)，關(guān)于原子力顯微鏡 襯底的標(biāo)準(zhǔn)
- NACE Paper 14792-2020 有機(jī)抑制劑在低碳鋼上的原位原子力顯微鏡和電化學(xué)測(cè)量研究
巴林國(guó)家計(jì)量局，關(guān)于原子力顯微鏡 襯底的標(biāo)準(zhǔn)
- BH GSO ISO 25498:2017 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進(jìn)行選區(qū)電子衍射分析
- BH GSO ISO 15932:2017 微束分析 分析電子顯微鏡 詞匯
- BH GSO ISO 22493:2017 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì)，關(guān)于原子力顯微鏡 襯底的標(biāo)準(zhǔn)
- JIS K 0132:1997 掃描電子顯微鏡總則
- JIS R 1683:2014 用原子力顯微鏡方法測(cè)定陶瓷薄膜表面粗糙度的試驗(yàn)方法
- JIS R 1683:2007 用原子力顯微鏡方法測(cè)定陶瓷薄膜表面粗糙度的試驗(yàn)方法
- JIS K 3850-1:2006 空中纖維分子的測(cè)定.第1部分:光學(xué)顯微鏡法和掃描電子顯微鏡法
- JIS K 3850-1:2000 空氣中纖維粒子的測(cè)量方法.第1部分:光學(xué)顯微鏡法和掃描電子顯微鏡法
中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于原子力顯微鏡 襯底的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 32262-2015 用于原子力顯微鏡檢測(cè)的脫氧核糖核酸樣品的制備方法
- GB/T 14698-2017 飼料原料顯微鏡檢查方法
- GB/T 34269-2017 飼料原料顯微鏡檢查圖譜
- GB/T 33834-2017 微束分析 掃描電子顯微術(shù) 生物試樣掃描電子顯微鏡分析方法
美國(guó)國(guó)防部標(biāo)準(zhǔn)化文件（含MIL標(biāo)準(zhǔn)），關(guān)于原子力顯微鏡 襯底的標(biāo)準(zhǔn)
- DOD A-A-54873-1993 塑料顯微鏡載片盒子
- DOD A-A-53609-1988 顯微鏡防護(hù)玻璃罩鑷子
印度標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于原子力顯微鏡 襯底的標(biāo)準(zhǔn)
- IS 13108-2019 光學(xué)和光子學(xué) 顯微鏡 光學(xué)顯微鏡浸沒(méi)液（第二次修訂）
俄羅斯標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于原子力顯微鏡 襯底的標(biāo)準(zhǔn)
- GOST 8.593-2009 國(guó)家測(cè)量統(tǒng)一性保證體系.原子力掃描探針顯微鏡.鑒定方法
- GOST R 8.635-2007 國(guó)家測(cè)量統(tǒng)一性保證體系.原子力掃描探針顯微鏡.校準(zhǔn)方法
- GOST R 8.593-2009 確保測(cè)量一致性的國(guó)家體系.原子力掃描隧道顯微鏡.檢定規(guī)程
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-醫(yī)藥，關(guān)于原子力顯微鏡 襯底的標(biāo)準(zhǔn)
- YY 1296-2016 光學(xué)和光子學(xué)手術(shù)顯微鏡眼科用手術(shù)顯微鏡的光危害
法國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于原子力顯微鏡 襯底的標(biāo)準(zhǔn)
- NF ISO 15932:2014 微束分析 分析電子顯微鏡 詞匯
國(guó)家計(jì)量檢定規(guī)程，關(guān)于原子力顯微鏡 襯底的標(biāo)準(zhǔn)
- JJG(教委) 12-1992 透射電子顯微鏡檢定規(guī)程
- JJG(教委) 11-1992 掃描電子顯微鏡檢定規(guī)程
- JJG(地質(zhì)) 1016-1990 透射電子顯微鏡檢定規(guī)程
國(guó)家計(jì)量技術(shù)規(guī)范，關(guān)于原子力顯微鏡 襯底的標(biāo)準(zhǔn)
- JJF 1916-2021 掃描電子顯微鏡校準(zhǔn)規(guī)范
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-教育，關(guān)于原子力顯微鏡 襯底的標(biāo)準(zhǔn)
- JY/T 011-1996 透射電子顯微鏡方法通則
美國(guó)機(jī)動(dòng)車工程師協(xié)會(huì)，關(guān)于原子力顯微鏡 襯底的標(biāo)準(zhǔn)
- SAE ARP598C-2003 (R)液體動(dòng)力系統(tǒng)的航空顯微鏡粒度法和微粒子污染
德國(guó)機(jī)械工程師協(xié)會(huì)，關(guān)于原子力顯微鏡 襯底的標(biāo)準(zhǔn)
- DVS 2803-1974 顯微鏡下的電子束焊接（調(diào)查）
