金相顯微鏡電子零件檢測

本專題涉及金相顯微鏡電子零件檢測的標(biāo)準(zhǔn)有98條。

國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，金相顯微鏡電子零件檢測涉及到金屬材料試驗(yàn)、有色金屬、光學(xué)設(shè)備、光學(xué)和光學(xué)測量、教育、分析化學(xué)、表面處理和鍍涂、空氣質(zhì)量、長度和角度測量、電子元器件組件、犯罪行為防范、建筑材料、電子元器件綜合、詞匯、無損檢測、計(jì)量學(xué)和測量綜合。

在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，金相顯微鏡電子零件檢測涉及到光學(xué)計(jì)量、放大鏡與顯微鏡、金相檢驗(yàn)方法、電磁計(jì)量、計(jì)量綜合、化學(xué)計(jì)量、電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、教學(xué)專用儀器、金相試驗(yàn)儀器及其他試驗(yàn)室儀器、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、犯罪鑒定技術(shù)、長度計(jì)量、金屬化學(xué)分析方法綜合、材料防護(hù)、溫度與壓力儀表、電子元件綜合、半導(dǎo)體發(fā)光器件、、教育、學(xué)位、學(xué)銜、技術(shù)管理、醫(yī)用光學(xué)儀器設(shè)備與內(nèi)窺鏡。

國家計(jì)量檢定規(guī)程，關(guān)于金相顯微鏡電子零件檢測的標(biāo)準(zhǔn)

• JJG(教委) 14-1992 金相顯微鏡檢定規(guī)程
• JJG(教委) 012-1996 金相顯微鏡檢定規(guī)程
• JJG(教委) 11-1992 掃描電子顯微鏡檢定規(guī)程
• JJG(教委) 12-1992 透射電子顯微鏡檢定規(guī)程
• JJG(地質(zhì)) 1016-1990 透射電子顯微鏡檢定規(guī)程
• JJG 550-1988 掃描電子顯微鏡試行檢定規(guī)程
• JJG 571-1988 測量顯微鏡檢定規(guī)程

IT-UNI，關(guān)于金相顯微鏡電子零件檢測的標(biāo)準(zhǔn)

• UNI 7604-1976 用復(fù)制品進(jìn)行的金屬材料電子顯微鏡檢測．顯微照相檢測用復(fù)制品的準(zhǔn)備
• UNI 7329-1974 使用復(fù)制品進(jìn)行金屬材料的電子顯微鏡檢測．顯微結(jié)構(gòu)檢測用復(fù)制品的準(zhǔn)備

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-機(jī)械，關(guān)于金相顯微鏡電子零件檢測的標(biāo)準(zhǔn)

• JB/T 10077-1999 金相顯微鏡
• JB/T 5383-1991 透射電子顯微鏡技術(shù)條件
• JB/T 5384-1991 掃描電子顯微鏡.技術(shù)條件
• JB/T 5480-1991 電子顯微鏡用光闌
• JB/T 5481-1991 電子顯微鏡用燈絲
• JB/T 5585-1991 透射電子顯微鏡分辨力測試方法
• JB/T 5584-1991 透射電子顯微鏡放大率測試方法
• JB/T 9352-1999 透射電子顯微鏡 試驗(yàn)方法
• JB/T 6842-1993 掃描電子顯微鏡試驗(yàn)方法

意大利統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于金相顯微鏡電子零件檢測的標(biāo)準(zhǔn)

• UNI 11399-2:2011 銅和銅合金 金相學(xué) 第2部分：顯微鏡檢驗(yàn)
• UNI 7329:1974 金屬材料的復(fù)制技術(shù)電子顯微鏡檢測 微結(jié)構(gòu)檢查用復(fù)制片的制備
• UNI EN ISO 9220:1998 金屬涂層 涂層厚度測量 掃描電子顯微鏡法
• UNI ISO 9220:1990 金屬覆層 覆層厚度測量 掃描電子顯微鏡方法
• UNI EN ISO 9220:2022 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量 掃描電子顯微鏡法

國家計(jì)量技術(shù)規(guī)范，關(guān)于金相顯微鏡電子零件檢測的標(biāo)準(zhǔn)

• JJF 1914-2021 金相顯微鏡校準(zhǔn)規(guī)范
• JJF 1916-2021 掃描電子顯微鏡校準(zhǔn)規(guī)范

國際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于金相顯微鏡電子零件檢測的標(biāo)準(zhǔn)

• ISO/TS 21383:2021 微束分析.掃描電子顯微鏡.定量測量用掃描電子顯微鏡的鑒定
• ISO/CD 25498:2023 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進(jìn)行選區(qū)電子衍射分析
• ISO/DIS 25498:2024 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進(jìn)行選區(qū)電子衍射分析
• ISO/CD 19214:2023 微束分析 分析電子顯微鏡 透射電子顯微鏡測定線狀晶體表觀生長方向的方法
• ISO 19214:2024 微束分析 分析電子顯微鏡 用透射電子顯微鏡測定納米晶體表觀生長方向的方法
• ISO 9220:1988 金屬覆蓋層 鍍層厚度測量 掃描電子顯微鏡法
• ISO 9220:2022 金屬涂層.涂層厚度的測量.掃描電子顯微鏡法
• ISO 15932:2013 微光束分析.分析電子顯微鏡.詞匯

HU-MSZT，關(guān)于金相顯微鏡電子零件檢測的標(biāo)準(zhǔn)

• MNOSZ 4017-1954 刮片顯微鏡檢測
• MNOSZ 3646-1954 食品樣品的微生物檢測．顯微鏡檢測
• MSZ 2657-1966 谷物大小分析顯微鏡檢測
• MSZ 3282-1968 熔點(diǎn)檢測使用細(xì)微和顯微鏡方式

韓國科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于金相顯微鏡電子零件檢測的標(biāo)準(zhǔn)

• KS B 5603-1990(2016) 顯微鏡檢測標(biāo)本
• KS D 8544-2016(2021) 金屬涂層——涂層厚度測量——透射電子顯微鏡法
• KS D 8544-2006 金屬涂層.涂層厚度測量.透射電子顯微鏡法
• KS D ISO 9220-2009(2017) 金屬鍍層鍍層厚度的測量掃描電子顯微鏡法
• KS D ISO 9220:2009 金屬覆蓋層.鍍層厚度測量.掃描電子顯微鏡法
• KS D ISO 9220-2009(2022) 金屬鍍層鍍層厚度的測量掃描電子顯微鏡法
• KS D ISO 9220-2022 金屬涂層 涂層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
• KS D 8544-2021 金屬涂層 涂層厚度的測量 透射電子顯微鏡法
• KS D ISO 22493-2012(2017) 微束分析掃描電子顯微鏡詞匯
• KS D ISO 22493:2022 微束分析.掃描電子顯微鏡.詞匯
• KS D ISO 22493-2022 微束分析.掃描電子顯微鏡.詞匯
• KS D ISO 22493:2012 微光束分析.掃描電子顯微鏡.術(shù)語

美國材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)，關(guān)于金相顯微鏡電子零件檢測的標(biāo)準(zhǔn)

• ASTM STP 372-1965 電子顯微鏡技術(shù)

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-教育，關(guān)于金相顯微鏡電子零件檢測的標(biāo)準(zhǔn)

• JY/T 0585-2020 金相顯微鏡分析方法通則
• JY/T 012-1996 金相顯微鏡分析方法通則
• JY/T 011-1996 透射電子顯微鏡方法通則

阿曼規(guī)格和計(jì)量局，關(guān)于金相顯微鏡電子零件檢測的標(biāo)準(zhǔn)

• OS GSO ISO 25498:2015 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進(jìn)行選區(qū)電子衍射分析
• OS GSO ISO 15932:2015 微束分析 分析電子顯微鏡 詞匯

巴林國家計(jì)量局，關(guān)于金相顯微鏡電子零件檢測的標(biāo)準(zhǔn)

• BH GSO ISO 25498:2017 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進(jìn)行選區(qū)電子衍射分析
• BH GSO ISO 22493:2017 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
• BH GSO ISO 15932:2017 微束分析 分析電子顯微鏡 詞匯

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于金相顯微鏡電子零件檢測的標(biāo)準(zhǔn)

• GB/T 34168-2017 金、銀納米顆粒材料生物效應(yīng)的透射電子顯微鏡檢測方法
• GB/T 34331-2017 黃瓜綠斑駁花葉病毒透射電子顯微鏡檢測方法

英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于金相顯微鏡電子零件檢測的標(biāo)準(zhǔn)

• BS ISO 25498:2018 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進(jìn)行選區(qū)電子衍射分析
• 18/30319114 DC BS ISO 20171 微束分析 掃描電子顯微鏡 用于掃描電子顯微鏡（TIFF/SEM）的標(biāo)記圖像文件格式
• BS ISO 19214:2024 微束分析 分析電子顯微鏡 透射電子顯微鏡測定納米晶體表觀生長方向的方法
• BS EN ISO 9220:1989 金屬鍍層.鍍層厚度測量.掃描電子顯微鏡法
• 24/30479937 DC BS ISO 25498 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進(jìn)行選區(qū)電子衍射分析
• BS EN ISO 9220:2022 金屬涂層 涂層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
• BS EN ISO 9220:1995 金屬涂層 涂層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
• BS ISO 22493:2008 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
• 24/30474499 DC BS ISO 19214 微束分析 分析電子顯微鏡 透射電子顯微鏡測定線狀晶體表觀生長方向的方法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-公共安全標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于金相顯微鏡電子零件檢測的標(biāo)準(zhǔn)

• GA/T 1938-2021 法庭科學(xué) 金屬檢驗(yàn) 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法

工業(yè)和信息化部，關(guān)于金相顯微鏡電子零件檢測的標(biāo)準(zhǔn)

• YB/T 4676-2018 鋼中析出相的分析 透射電子顯微鏡法

日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì)，關(guān)于金相顯微鏡電子零件檢測的標(biāo)準(zhǔn)

• JIS K 0132:1997 掃描電子顯微鏡總則
• JIS K 3850-1:2006 空中纖維分子的測定.第1部分:光學(xué)顯微鏡法和掃描電子顯微鏡法
• JIS K 3850-1:2000 空氣中纖維粒子的測量方法.第1部分:光學(xué)顯微鏡法和掃描電子顯微鏡法

海灣阿拉伯國家合作委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn)組織，關(guān)于金相顯微鏡電子零件檢測的標(biāo)準(zhǔn)

• GSO ISO 9220:2013 金屬涂層 涂層厚度測量 掃描電子顯微鏡法
• GSO ISO 25498:2015 微束分析 分析掃描電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進(jìn)行選區(qū)電子衍射分析
• GSO ISO 15932:2015 微量分析 分析電子顯微鏡 詞匯
• GSO ISO 22493:2015 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
• GSO ISO 3057:2013 無損檢測 類似于顯微鏡檢查并與表面檢查相關(guān)的技術(shù)

丹麥標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于金相顯微鏡電子零件檢測的標(biāo)準(zhǔn)

• DANSK DS/ISO 9220:2022 金屬涂層 涂層厚度測量 掃描電子顯微鏡法
• DS/EN ISO 9220:1995 金屬鍍層 鍍層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
• DANSK DS/EN ISO 9220:1994 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量 掃描電子顯微鏡法

美國電子電路和電子互連行業(yè)協(xié)會(huì)，關(guān)于金相顯微鏡電子零件檢測的標(biāo)準(zhǔn)

• IPC TM-650 2.6.22-1995 塑封電子元器件用的聲學(xué)顯微鏡
• IPC J-STD-035-1999 非氣密封裝電子元件聲學(xué)顯微鏡

法國標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于金相顯微鏡電子零件檢測的標(biāo)準(zhǔn)

• NF EN ISO 9220:2022 金屬涂層.涂層厚度的測量.掃描電子顯微鏡法
• NF A91-108:1995 金屬鍍層.鍍層厚度的測量.掃描電子顯微鏡法
• NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 金屬鍍層 鍍層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
• NF ISO 15932:2014 微束分析 分析電子顯微鏡 詞匯

SE-SIS，關(guān)于金相顯微鏡電子零件檢測的標(biāo)準(zhǔn)

• SIS SS-ISO 9220:1989 金屬涂層．涂層厚度測量．掃描電子顯微鏡方法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-司法，關(guān)于金相顯微鏡電子零件檢測的標(biāo)準(zhǔn)

• SF/T 0139-2023 泥土檢驗(yàn) 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法

德國標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)，關(guān)于金相顯微鏡電子零件檢測的標(biāo)準(zhǔn)

• DIN EN ISO 9220:2022-05 金屬涂層-涂層厚度的測量-掃描電子顯微鏡法

歐洲標(biāo)準(zhǔn)化委員會(huì)，關(guān)于金相顯微鏡電子零件檢測的標(biāo)準(zhǔn)

• EN ISO 9220:2022 金屬覆蓋層.鍍層厚度測量.掃描電子顯微鏡法

國際電工委員會(huì)，關(guān)于金相顯微鏡電子零件檢測的標(biāo)準(zhǔn)

• IEC PAS 62191:2000 非氣密封裝電子元件的聲學(xué)顯微鏡

(美國)固態(tài)技術(shù)協(xié)會(huì),隸屬EIA，關(guān)于金相顯微鏡電子零件檢測的標(biāo)準(zhǔn)

• JEDEC J-STD-035-1999 非氣密封裝電子元件用聲波顯微鏡

西班牙標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于金相顯微鏡電子零件檢測的標(biāo)準(zhǔn)

• UNE-EN ISO 9220:2022 金屬涂層 涂層厚度的測量 掃描電子顯微鏡方法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-鐵道，關(guān)于金相顯微鏡電子零件檢測的標(biāo)準(zhǔn)

• TB/T 2787-1997 機(jī)車車軸金相顯微檢驗(yàn)

中國團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于金相顯微鏡電子零件檢測的標(biāo)準(zhǔn)

• T/CSTM 00162-2020 透射電子顯微鏡校準(zhǔn)方法

國家質(zhì)檢總局，關(guān)于金相顯微鏡電子零件檢測的標(biāo)準(zhǔn)

• GB/T 28044-2011 納米材料生物效應(yīng)的透射電子顯微鏡檢測方法通則

 

可能用到的儀器設(shè)備