電子顯微鏡樣本制作方法
本專題涉及電子顯微鏡樣本制作方法的標(biāo)準(zhǔn)有27條。
國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，電子顯微鏡樣本制作方法涉及到分析化學(xué)、陶瓷、物理學(xué)、化學(xué)、空氣質(zhì)量、光學(xué)和光學(xué)測量、危險(xiǎn)品防護(hù)、涂料配料。
在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，電子顯微鏡樣本制作方法涉及到基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、石油地質(zhì)勘探、石油勘探、開發(fā)與集輸工程綜合、油頁巖、特種陶瓷、基礎(chǔ)學(xué)科綜合、環(huán)境衛(wèi)生、光學(xué)儀器綜合、大氣環(huán)境有毒害物質(zhì)分析方法、建材原料礦、衛(wèi)生、安全、勞動保護(hù)、工業(yè)防塵防毒技術(shù)。
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會，關(guān)于電子顯微鏡樣本制作方法的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 33834-2017 微束分析 掃描電子顯微術(shù) 生物試樣掃描電子顯微鏡分析方法
- GB/T 32262-2015 用于原子力顯微鏡檢測的脫氧核糖核酸樣品的制備方法
- GB/T 33839-2017 基于生物效應(yīng)含碳基納米材料生物樣品的透射電子顯微鏡檢測方法
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-石油，關(guān)于電子顯微鏡樣本制作方法的標(biāo)準(zhǔn)
- SY/T 5162-2014 巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法
- SY/T 5162-1997 巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法
- SY 5162-2014 巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法
國家能源局，關(guān)于電子顯微鏡樣本制作方法的標(biāo)準(zhǔn)
- SY/T 5162-2021 巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法
國家質(zhì)檢總局，關(guān)于電子顯微鏡樣本制作方法的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 18295-2001 油氣儲層砂巖樣品 掃描電子顯微鏡分析方法
- GB/Z 21738-2008 一維納米材料的基本結(jié)構(gòu).高分辨透射電子顯微鏡檢測方法
日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會，關(guān)于電子顯微鏡樣本制作方法的標(biāo)準(zhǔn)
- JIS R 1633:1998 掃描電子顯微鏡觀察用精細(xì)陶瓷和陶瓷粉末的樣品制備方法
美國材料與試驗(yàn)協(xié)會，關(guān)于電子顯微鏡樣本制作方法的標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM D5756-02 用透射電子顯微鏡對塵埃中石棉質(zhì)量濃度作微真空取樣和間接分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM D5756-95 用透射電子顯微鏡對塵埃中石棉質(zhì)量濃度作微真空取樣和間接分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM D5755-95 用透射電子顯微鏡對塵埃中石棉結(jié)構(gòu)值濃度作微真空取樣和間接分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM D5755-02 用透射電子顯微鏡對塵埃中石棉結(jié)構(gòu)值濃度作微真空取樣和間接分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM D5756-02(2008) 用透射電子顯微鏡對塵埃中石棉塊表面負(fù)荷作微真空取樣和間接分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM D6480-05(2010) 用透射電子顯微鏡對表面擦拭取樣中石棉結(jié)構(gòu)值濃度間接制備和分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM D6480-99 用傳輸電子顯微鏡檢查法對石棉結(jié)構(gòu)數(shù)密度進(jìn)行表面抽樣、間接制備和分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM D5755-03 用石棉結(jié)構(gòu)值表面負(fù)荷用透射電子顯微鏡對塵埃微真空取樣和間接分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM D5755-09 用石棉結(jié)構(gòu)值表面負(fù)荷用透射電子顯微鏡對塵埃微真空取樣和間接分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM D5755-09(2014)e1 用石棉結(jié)構(gòu)值表面負(fù)荷用透射電子顯微鏡對塵埃微真空取樣和間接分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM D6056-96(2011) 工作環(huán)境下空氣中單晶陶瓷晶須濃度透射電子顯微鏡測定的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM D6480-05 用透射電子顯微鏡檢查法對石棉結(jié)構(gòu)數(shù)密度進(jìn)行表面的擦拭取樣、間接制備和分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM D605-82(1996)e1 用電子顯微鏡掃描測定工作環(huán)境下空氣中單晶陶瓷晶須濃度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM D6059-96(2011) 用電子顯微鏡掃描測定工作環(huán)境下空氣中單晶陶瓷晶須濃度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM D6480-19 用透射電子顯微術(shù)對石棉結(jié)構(gòu)表面進(jìn)行擦拭取樣、間接制備和分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
美國國家標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會，關(guān)于電子顯微鏡樣本制作方法的標(biāo)準(zhǔn)
- ANSI/ASTM D6059:2001 用掃描電子顯微鏡測定工作環(huán)境空氣中單晶陶瓷須晶濃度的方法
- ANSI/ASTM D6056:2001 用傳輸電子顯微鏡測定工作環(huán)境空氣中單晶陶瓷須晶濃度的方法
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可能用到的儀器設(shè)備
