工業(yè)電子顯微鏡調(diào)試方法

本專題涉及工業(yè)電子顯微鏡調(diào)試方法的標(biāo)準(zhǔn)有64條。

國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，工業(yè)電子顯微鏡調(diào)試方法涉及到光學(xué)設(shè)備、光學(xué)和光學(xué)測量、分析化學(xué)、空氣質(zhì)量、橡膠和塑料用原料、鋼鐵產(chǎn)品、長度和角度測量、涂料配料、半導(dǎo)體材料、半導(dǎo)體分立器件、危險品防護。

在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，工業(yè)電子顯微鏡調(diào)試方法涉及到電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、檢驗專用設(shè)備、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、公共醫(yī)療設(shè)備、火工產(chǎn)品、炭黑、鋼鐵與鐵合金分析方法、工業(yè)防塵防毒技術(shù)、大氣環(huán)境有毒害物質(zhì)分析方法、材料防護、元素半導(dǎo)體材料、環(huán)境衛(wèi)生、衛(wèi)生、安全、勞動保護、油、氣處理設(shè)備、建材原料礦。

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-機械，關(guān)于工業(yè)電子顯微鏡調(diào)試方法的標(biāo)準(zhǔn)

• JB/T 9352-1999 透射電子顯微鏡 試驗方法
• JB/T 6842-1993 掃描電子顯微鏡試驗方法
• JB/T 5584-1991 透射電子顯微鏡放大率測試方法
• JB/T 5585-1991 透射電子顯微鏡分辨力測試方法

韓國科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于工業(yè)電子顯微鏡調(diào)試方法的標(biāo)準(zhǔn)

• KS I 0051-1999 掃描電子顯微鏡試驗方法通則

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會，關(guān)于工業(yè)電子顯微鏡調(diào)試方法的標(biāo)準(zhǔn)

• GB/T 33834-2017 微束分析 掃描電子顯微術(shù) 生物試樣掃描電子顯微鏡分析方法

美國材料與試驗協(xié)會，關(guān)于工業(yè)電子顯微鏡調(diào)試方法的標(biāo)準(zhǔn)

• ASTM E2090-00 利用光電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡對清潔室擦刷工具釋放粒子和纖維的尺寸差異計數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
• ASTM E2090-12 利用光電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡對清潔室擦刷工具釋放粒子和纖維的尺寸差異計數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
• ASTM D3849-13 用電子顯微鏡對碳黑形態(tài)特性的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
• ASTM D3849-14 用電子顯微鏡對碳黑形態(tài)特性的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
• ASTM D3849-95a(2000) 用電子顯微鏡測定炭黑形態(tài)特征的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
• ASTM D3849-07 用電子顯微鏡測定炭黑形態(tài)特征的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
• ASTM D3849-22 用電子顯微鏡測定炭黑形態(tài)特征的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
• ASTM D3849-02 炭黑的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法.用電子顯微鏡分析炭黑的形態(tài)特征
• ASTM D3849-04 炭黑的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法.用電子顯微鏡分析炭黑的形態(tài)特征
• ASTM E2142-08(2015) 用掃描電子顯微鏡評定和分類鋼中夾雜物的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
• ASTM E2142-08 用掃描電子顯微鏡分級和分類鐵中內(nèi)含物的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
• ASTM D3849-14a 炭黑的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法. 使用電子顯微鏡測定炭黑的形態(tài)特征
• ASTM E2142-08(2023) 用掃描電子顯微鏡評定和分類鋼中夾雜物的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
• ASTM D6056-96(2011) 工作環(huán)境下空氣中單晶陶瓷晶須濃度透射電子顯微鏡測定的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
• ASTM B748-90(2010) 掃描電子顯微鏡測量橫截面測定金屬涂層厚度的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
• ASTM D605-82(1996)e1 用電子顯微鏡掃描測定工作環(huán)境下空氣中單晶陶瓷晶須濃度的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
• ASTM D6059-96(2011) 用電子顯微鏡掃描測定工作環(huán)境下空氣中單晶陶瓷晶須濃度的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
• ASTM B748-90(2021) 用掃描電子顯微鏡測量橫截面測量金屬涂層厚度的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
• ASTM E2142-01 利用掃描電子顯微鏡測定鋼中雜質(zhì)的額定值和分級的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
• ASTM B748-90(2016) 通過用掃描電子顯微鏡測量橫截面來測量金屬涂層厚度的試驗方法
• ASTM B748-90(2001) 通過掃描電子顯微鏡測量橫截面來測量金屬涂層厚度的標(biāo)準(zhǔn)測試方法
• ASTM D5756-02 用透射電子顯微鏡對塵埃中石棉質(zhì)量濃度作微真空取樣和間接分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
• ASTM D5756-95 用透射電子顯微鏡對塵埃中石棉質(zhì)量濃度作微真空取樣和間接分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
• ASTM F1372-93(1999) 用于氣體分布系統(tǒng)部件的金屬表面條件掃描電子顯微鏡（SEM）的標(biāo)準(zhǔn)測試方法
• ASTM F1372-93(2020) 用于氣體分布系統(tǒng)部件的金屬表面條件掃描電子顯微鏡（SEM）的標(biāo)準(zhǔn)測試方法
• ASTM D5755-95 用透射電子顯微鏡對塵埃中石棉結(jié)構(gòu)值濃度作微真空取樣和間接分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
• ASTM D5755-02 用透射電子顯微鏡對塵埃中石棉結(jié)構(gòu)值濃度作微真空取樣和間接分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
• ASTM D5756-02(2008) 用透射電子顯微鏡對塵埃中石棉塊表面負(fù)荷作微真空取樣和間接分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
• ASTM D5755-03 用石棉結(jié)構(gòu)值表面負(fù)荷用透射電子顯微鏡對塵埃微真空取樣和間接分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
• ASTM D5755-09 用石棉結(jié)構(gòu)值表面負(fù)荷用透射電子顯微鏡對塵埃微真空取樣和間接分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
• ASTM D5755-09(2014)e1 用石棉結(jié)構(gòu)值表面負(fù)荷用透射電子顯微鏡對塵埃微真空取樣和間接分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
• ASTM F1372-93(2005) 氣體分配系統(tǒng)組件用金屬表面狀態(tài)的掃描式電子顯微鏡(SEM)分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
• ASTM F1372-93(2012) 氣體分配系統(tǒng)組件用金屬表面狀態(tài)的掃描式電子顯微鏡 (SEM) 分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
• ASTM D6480-99 用傳輸電子顯微鏡檢查法對石棉結(jié)構(gòu)數(shù)密度進行表面抽樣、間接制備和分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
• ASTM D6281-06 用透射式電子顯微鏡直接轉(zhuǎn)移法測定周圍環(huán)境和室內(nèi)空氣中氣載石棉濃度的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
• ASTM D6281-04 用透射式電子顯微鏡直接轉(zhuǎn)移法測定周圍環(huán)境和室內(nèi)空氣中氣載石棉濃度的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
• ASTM D6281-09 用透射式電子顯微鏡直接轉(zhuǎn)移法測定周圍環(huán)境和室內(nèi)空氣中氣載石棉濃度的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
• ASTM D6281-15 用透射電子顯微鏡術(shù)直接移植法 (TEM) 測定環(huán)境和室內(nèi)大氣下空氣中石棉濃度的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
• ASTM D6480-05(2010) 用透射電子顯微鏡對表面擦拭取樣中石棉結(jié)構(gòu)值濃度間接制備和分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
• ASTM D6480-05 用透射電子顯微鏡檢查法對石棉結(jié)構(gòu)數(shù)密度進行表面的擦拭取樣、間接制備和分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
• ASTM D6281-98 通過透射電子顯微鏡直接轉(zhuǎn)移（TEM）測定的環(huán)境和室內(nèi)環(huán)境中的空氣中石棉濃度的標(biāo)準(zhǔn)測試方法
• ASTM E2090-06 使用光學(xué)和掃描電子顯微鏡從潔凈室刮水器釋放的顆粒和纖維的尺寸分化計數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)測試方法
• ASTM E2090-12(2020) 使用光學(xué)和掃描電子顯微鏡從潔凈室刮水器釋放的顆粒和纖維的尺寸分化計數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)測試方法
• ASTM D8526-23 使用透射電子顯微鏡測定環(huán)境大氣中碳納米管和含碳納米管顆粒濃度的分析程序的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法

國家軍用標(biāo)準(zhǔn)-國防科工委，關(guān)于工業(yè)電子顯微鏡調(diào)試方法的標(biāo)準(zhǔn)

• GJB 5384.22-2005 煙火藥性能試驗方法 第21部分:煙霧固態(tài)微粒粒子數(shù)濃度測定 電子顯微鏡法
• GJB 5384.23-2005 煙火藥性能試驗方法 第23部分:煙霧固態(tài)微粒粒度頒布測定 電子顯微鏡法

國家軍用標(biāo)準(zhǔn)-總裝備部，關(guān)于工業(yè)電子顯微鏡調(diào)試方法的標(biāo)準(zhǔn)

• GJB 8684.22-2015 煙火藥性能試驗方法 第22部分：煙霧固態(tài)微粒粒子數(shù)濃度測定 電子顯微鏡法
• GJB 8684.23-2015 煙火藥性能試驗方法 第23部分：煙霧固態(tài)微粒粒度分布測定 電子顯微鏡法

美國國家標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會，關(guān)于工業(yè)電子顯微鏡調(diào)試方法的標(biāo)準(zhǔn)

• ANSI/ASTM D6059:2001 用掃描電子顯微鏡測定工作環(huán)境空氣中單晶陶瓷須晶濃度的方法
• ANSI/ASTM D6056:2001 用傳輸電子顯微鏡測定工作環(huán)境空氣中單晶陶瓷須晶濃度的方法
• ASTM D6281-23 通過透射電子顯微鏡直接轉(zhuǎn)移 (TEM) 測定環(huán)境和室內(nèi)大氣中空氣中石棉濃度的標(biāo)準(zhǔn)測試方法（標(biāo)準(zhǔn) + Redline PDF 包）

CU-NC，關(guān)于工業(yè)電子顯微鏡調(diào)試方法的標(biāo)準(zhǔn)

• NC 66-89-1987 電工和電子行業(yè)．DC可調(diào)節(jié)能源．測試方法

德國標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會，關(guān)于工業(yè)電子顯微鏡調(diào)試方法的標(biāo)準(zhǔn)

• DIN 50452-1:1995 半導(dǎo)體工藝用材料的檢驗.液體中粒子分析的試驗方法.第1部分:粒子的顯微鏡測定
• DIN EN 60749-35:2007-03 半導(dǎo)體器件-機械和氣候測試方法-第35部分：塑料封裝電子元件的聲學(xué)顯微鏡

丹麥標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會，關(guān)于工業(yè)電子顯微鏡調(diào)試方法的標(biāo)準(zhǔn)

• DS/EN 60749-35:2007 半導(dǎo)體器件 機械和氣候試驗方法 第35部分：塑料封裝電子元件的聲學(xué)顯微鏡

法國標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會，關(guān)于工業(yè)電子顯微鏡調(diào)試方法的標(biāo)準(zhǔn)

• NF EN 60749-35:2006 半導(dǎo)體器件 - 氣候和機械測試方法 - 第 35 部分：塑料封裝電子元件的聲學(xué)顯微鏡

ES-UNE，關(guān)于工業(yè)電子顯微鏡調(diào)試方法的標(biāo)準(zhǔn)

• UNE-EN 60749-35:2006 半導(dǎo)體器件 機械和氣候測試方法 第35部分：塑料封裝電子元件的聲學(xué)顯微鏡

立陶宛標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于工業(yè)電子顯微鏡調(diào)試方法的標(biāo)準(zhǔn)

• LST EN 60749-35-2007 半導(dǎo)體器件 機械和氣候測試方法 第35部分：塑料封裝電子元件的聲學(xué)顯微鏡（IEC 60749-35:2006）

本站其他標(biāo)準(zhǔn)專題： 。

 

可能用到的儀器設(shè)備