如果n1>n2，則介質(zhì)1相對(duì)于介質(zhì)2為光密介質(zhì)，介質(zhì)2相對(duì)于介質(zhì)1為光疏介質(zhì)。對(duì)于X射線，一般固體與空氣相比都是光疏介質(zhì)。所以，如果介質(zhì)1是空氣，那么α1>α2，即折射線會(huì)偏向界面。如果α1足夠小，并使α2=0，此時(shí)的掠射角α1稱為臨界角α臨界。當(dāng)α1<α臨界時(shí)，界面就象 鏡子一樣將入射線全部反射回介質(zhì)1中，這就是全反射現(xiàn)象。

　　X射線熒光光譜法有如下特點(diǎn)：

　　分析的元素范圍廣，從4Be到92U均可測定；

　　熒光X射線譜線簡單，相互干擾少，樣品不必分離，分析方法比較簡便；

　　分析濃度范圍較寬,從常量到微量都可分析。重元素的檢測限可達(dá)ppm量級(jí)，輕元素稍差；

　　分析樣品不被破壞，分析快速，準(zhǔn)確，便于自動(dòng)化。