掃描電鏡（SEM）
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鋼研納克低電壓超高分辨場發(fā)射掃描電鏡SEM FE-2050T
鋼研納克
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飛納臺式掃描電子顯微鏡專業(yè)版Pro
復納
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賽默飛（原FEI）Apreo場發(fā)射掃描電子顯微鏡
賽默飛
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集成能譜場發(fā)射掃描電鏡Apreo ChemiSEM
賽默飛（原FEI）
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電鏡附件及外設TEM cube樣品桿清潔儲存站
南京覃思
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Unity BEX成像探測器
牛津儀器
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KYKY-EM69系列鎢燈絲掃描電鏡
中科科儀
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JSM-IT810超高分辨熱場發(fā)射掃描電鏡
日本電子
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國產超高分辨場發(fā)射掃描電子顯微鏡 SEM5000X
國儀量子
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賽默飛（原FEI）Axia ChemiSEM 智能型鎢燈絲掃描電鏡
歐波同
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國儀量子 國產SEM5000鋰電池專用場發(fā)射掃描電鏡 鋰電正極 鋰電負極 鋰電隔膜
是一款分辨率高、功能豐富的場發(fā)射掃描電子顯微鏡。先進的鏡筒設計，高壓隧道技術（SuperTunnel）、低像差無漏磁物鏡設計，實現了低電壓高分辨率成像，同時磁性樣品可適用。
國儀量子技術（合肥）股份有限公司 400-6699-117 轉 4818免費咨詢 -
蔡司場發(fā)射掃描電子顯微鏡 Gemini系列
蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM系列，具有出色的分辨率，能夠輕松實現亞納米分辨成像以及高探測效率，適用于包括磁性材料的多種材料的高分辨成像與分析。
卡爾蔡司(上海)管理有限公司 400-6699-117 轉 6251免費咨詢 -
OTS一鍵夾雜物分析系統(tǒng)掃描電鏡
OTS全自動鋼中非金屬夾雜物分析系統(tǒng)是一套集掃描電子顯微鏡、大面積高速能譜探測器、夾雜物自動分析軟件以及樣品潔凈度評 價及建議為一體的綜合性分析系統(tǒng)。該系統(tǒng)不僅具有完備的電子光學成像系統(tǒng)，能對鋼中非金屬夾雜物的微觀形貌進行清晰觀察，而且配有 業(yè)界領先的大面積高速X射線能譜儀，自動對試樣選定區(qū)域內所有
北京歐波同光學技術有限公司 400-6699-117 轉 6166免費咨詢 -
SEM 帶掃描電鏡的高溫疲勞試驗機
SEM高溫疲勞試驗機是帶掃描電子顯微鏡的疲勞試驗機。用于在疲勞試驗過程中動態(tài)時實觀測樣品表面的微觀破壞?？蛇M行拉-拉、拉-壓、三點彎曲疲勞試驗及800℃以下的高溫試驗。
島津企業(yè)管理（中國）有限公司/島津（香港）有限公司 400-6699-117 轉 6666免費咨詢 -
Helios 5 DualBeam 雙束掃描電鏡
用于 TEM 和 STEM 成像或原子探針斷層掃描的樣品制備。產品可實現先進的自動化操作，簡單易用，并且能夠進行高質量的亞表面 3D 表征。
賽默飛電子顯微鏡（原FEI） 400-6699-117 轉 8899免費咨詢 -
Helios 5 EXL DualBeam雙束掃描電鏡
一款300mm全晶圓聚焦離子束掃描電子顯微鏡（FIB-SEM），旨在解決半導體行業(yè)中的TEM樣品制備挑戰(zhàn)。Helios 5 EXL DualBeam能夠為當今最先進的工藝節(jié)點制備樣品，包括亞5nm和門全方位技術。
賽默飛電子顯微鏡（原FEI） 400-6699-117 轉 8899免費咨詢 -
TESCAN 鎢燈絲掃描電鏡 TESCAN VEGA COMPACT
VEGA COMPACT 是TESCAN推出的掃描電子顯微鏡系列,以高品質、完全計算機控制、用戶友好界面為基礎的系列產品，具有使用方便、產品質量穩(wěn)定、分析高效為特點的獨創(chuàng)設計。
TESCAN（中國） 400-6699-117 轉 5963免費咨詢 -
鋼研納克低電壓超高分辨場發(fā)射掃描電鏡SEM FE-2050T
鋼研納克低電壓超高分辨場發(fā)射掃描電鏡SEM FE-2050T圖文介紹
納克微束（北京）有限公司 400-6699-117 轉 6450免費咨詢 -
納克微束高分辨場發(fā)射掃描電鏡 FE-1050系列
納克微束FE-1050系列 高分辨（場發(fā)射）掃描電鏡，是國內首款低電壓高分辨力掃描電鏡，也是國內首款可搭載聚焦離子束（FIB）模塊的大型場發(fā)射電鏡平臺。其擁有卓越的成像性能，穩(wěn)定可靠的運行記錄，以及智能的操作體驗。
納克微束（北京）有限公司 400-6699-117 轉 6450免費咨詢 -
賽默飛（原FEI）Volumescope 2 掃描電鏡
生命科學專用的 Thermo Scientific Volumescope 2 掃描電子顯微鏡（Scanning Electron Microscope，SEM）是我們最先進的連續(xù)切面成像系統(tǒng)（Serial Block Face Imaging，SBFI）。該系統(tǒng)簡單易用，讓使用者能夠完美精準的控制
賽默飛電子顯微鏡（原FEI） 400-6699-117 轉 8899免費咨詢
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